GE/KK带可更换保护膜的接触法探头K0.5S探伤仪探头
探伤仪 探头分为两种类型可供测试选用：
1、单探头和TR探头。这两种探头都是在垂直于被测物体表面的方向上发射和接收脉冲（直探头）。
2、或者是在与被测物体表面成一事实上的角度的方向上发射和接收脉冲（斜探头）
K0.5S探伤仪探头-主要特性：
- 单晶探头进行声波脉冲的发射和接收
- 纵波的垂直传输
- 由于柔性的抗磨损保护膜而具有稳定的耦合特性，即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上
- 如果及时地更换保护膜，则探头的磨损可以达到最小
- 特殊的粗晶探头，在测试高的声波衰减材料时，利用短的声波脉冲可以达到高信噪比
- 由于采用印模压铸成型，因此实际开关具有很高的稳定性
K0.5S探伤仪探头-主要应用领域
通常：用于容积形或者平等于表面的缺陷的探测和评估。可互换的抗磨损的保护膜可以使得探头在粗糙或者弯曲的表面也达到尽可能好的耦合，并防止探头受损。
美国GE、德国KK公司 单晶直探头型号如下：
B0.5SL、B1SL、 B2SL
K0.5S、K1S、K0.5SM、K1SM、K1SC、K2SC、MK1S、MK2S、MK4S
B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S
探头详细信息请致电：0755-22325800,22325920咨询了解！
B..SL：
探头型号有：B0.5SL B1SL B2SL
用于测试这样一类中等尺寸和大尺寸物体，它们由于具有长的声程（例如大的锻件或球墨铸铁）而会导致大的声波衰减。它们也适合用于测试具有强的声波吸收特性的塑料（例如尼龙、特氟龙、聚丙烯），为增加灵敏度和分辨率，可以将保护膜去掉。
K..S，K..SM，K..SC和MK..S(粗晶探头)：
探头型号有：K0.5S、K1S、K0.5SM、K1SM、K1SC、K2SC、MK1S、MK2S、MK4S
用于测试这样一类的中等尺寸和大尺寸物体，它们的材料会通过声波的散射作用（例如灰口铸铁、非铁重金属材料或者塑料合成材料等制成的物体）而导致高的声波衰减。
它们也可以用于测试材料的物理特性（例如建筑材料、岩芯和半导体材料的特性）。
B..S和MB..S：
探头型号有：B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S
这类探头的公差分布范围窄，对目前大多数的测试任务来说（例如平板物、条状物和方形轮廓物体的测试，以及窗口和螺钉、螺孔和外壳等的测试），可以达到最高的精度要求。对于由多种材料（例如所有的金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）构成的开关简单的部件的测试也可以达到高精度要求。
