温度冲击试验箱

产品介绍

温度冲击试验箱是测定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
 
适用范围

1.计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等
2.电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等。
3.电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备；
4.其他：包装箱、运输设备等。
 
测试参考标准

IEC 60068-2-14，GB/T 2423.22,GJB 150.5等
 
技术参数

设备型号：CJ602S3 Ⅰ
试验温度范围：-75℃～200℃
高温设定范围：+60℃～+200℃
低温设定范围：0℃～-75℃
温变速率：≤5Min
内箱尺寸：670×650×460mm