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德国diatest小孔量规，有意者请联系！
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一、塞规式测量系统
塞规式测量系统（BMD）
德国DIATEST公司生产的高精度塞规式测量头特别适用于大批量生产中的自动及手动测量，
其特有的导向圆柱体设计，保证了测量结果的可靠性，解决了孔径测量的对中难题，最大限
度地减少了人为因素对测量结果的影响，从而能够方便、快速、准确地得出测量结果。
使用DIATEST公司的测头，不仅能精确的测量孔径，还能测量孔的各种几何形状误差。
用DIATEST测头可以测量包括下图中各种孔在内的孔的直径。
BMD技术指标
适用范围：通孔、盲孔、锥孔、台阶孔、方孔等各种孔
测量范围：Φ2.98-Φ270㎜
测量深度：0.6—2000㎜
重复精度：≤1μm
线性误差：≤1％
使用寿命：满足100万次以上测量要求
结构形式：积木式结构，随意组合
适用环境：特别适合在生产现场使用
根据测量要求，DIATEST塞规式测头可分为电子塞规、数显塞规和带表塞规三大类：
电子塞规
分辨率：0.1μm
四色显示
数字量与模拟量同时显示
可设置上下限
两路或四路信号输入
计算机输入控制
信号输出
分辨率：0.1μm
数字量与模拟量同时显示
可设置上下限
四路信号输入，可扩展
数据存储和数据处理
打印输出
信号输出
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