| 高压加速老化试验机规格： |
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| 规格/SPEC： |
| 型 号 |
PCT - 25 |
PCT - 30 |
PCT - 35 |
PCT - 45 |
| 内部尺寸(W×H×D)mm |
Φ250×300 |
Φ300×400 |
Φ300×500 |
Φ450×500 |
| 外箱尺寸(W×H×D)mm |
650×600×550 |
650×600×650 |
650×600×750 |
800×750×750 |
| 使用温度 |
121℃；132℃；(143℃特殊选用) |
| 使用湿度 |
100％RH饱和蒸气湿度 |
| 使用蒸气压力(绝对压力) |
1个环境大气压 +0.0Kg／cm2- 2.0Kg／cm2；(3.0Kg／cm2属于特殊规格) |
| 循环方式 |
水蒸气自然对流循环 |
| 安全保护装置 |
缺水保护，超压保护、 (具有自动／手动补水功能，自动泻压功能) |
| 配 件 |
不銹钢隔板两层 |
| 电 源 |
AC220V，50／60Hz／AC380V , 50／60Hz |
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| 高压加速老化试验机性能： |
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| 加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。 |
| 用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。 |
| 随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。 |
| 注意事项：USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验) |
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| 高压加速老化试验机适用行业： |
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| 广泛应用于半导体，多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 |
