表面测量仪器与系统MarSurf XR 20

MarSurf XR 20可以提供给您所需要的一切，该设别囊括了实验室和车间所有常用的，基于国际标准的测量参数和轮廓。优化的结构和建议的操作设计，使得该高效率设备更易使用。

可自动选取标准截止波长和扫描长度功能（专利）

根据Ra或Rz的参数规格，支持不同校准方法（静态和动态）

可设定维护和校准周期

针对客户实际应用，具备非常大的测量范围

可选择不同的配置方式

可设置不同用户层次，通过密码保护，避免操作者错误操作或改动设定，并可确保未有权限人员不能使用

允许多个测量结果甚至多个零件的测量结果在一个文档中处理和打印