涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
磁性测厚法 适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢\铁\银\镍.此种方法测量精度高
涡流测厚法 适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低
超声波测厚法 目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵\测量精度也不高.
电解测厚法 此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦
放射测厚法 此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合.
国内目前使用最为普遍的是第1\2两种方法。
产品介绍：
涂层测厚仪SaluTronâComBi D4/5 ，该仪器可无损检测涂层厚度，它操作简单，方便携带，操作员可通过菜单进行各种必要操作，快速、准确的测量涂层厚度。该仪器测量范围可达0-5mm，应用范围广，使用寿命长。
SaluTron®D4/D5便携式测厚仪操作简单，功能强大。（可选：D4 plus、D5 plus、RS232接口及数据资料存储）。
SaluTron®D4-Fe测量各种钢和铁基底的非磁性涂层，如：尼龙、喷漆、搪瓷、铜、铬、锌等
The gaugeSaluTron®D5-NFe可用来测量所有非磁性基底（如铜、铝、青铜）上面的非导电涂层（如油漆、防腐层、氧化膜），也可测铝的铝阳极涂层
D4/D5测厚仪符合CE标签及以下标准：
DIN 50981, 50984
ISO 2178, 2360, 2808
BS 5411 (3, 11) 3900 (c, 5)
ASTM B499, D1400
技术参数：
基体：磁性、非磁性金属两用
测量范围：0-5000my或0-200mils
分辩力： 0.1 my(0.0 – 99.9 my)
1 my(100 – 999 my)
0.01 mm(1.00 – 5.00 mm)
0.01 mils(0.00 – 9.99 mils)
o.1 mils(10.0 – 99.9 mils)
1.0 mils(100 – 200 mils)
重复精度：+/- (1my+2%) 0f 0-1000 my
+/- 3.5% of 1001-5000 my
公差：+/- 1.0 my或+/- 0.06 mils
最小测量面积：10mm x 10mm(0.4’’x0.4’’)
最小曲率半径：5mm或0.02“
最薄基体厚度：磁性：0.2mm，非磁性：0.05mm
储藏温度：-10°C - +60°C(14~140°F)
操作温度：0°C - +60°(C32~140°F)
探头形式：一体
电源：9V碱性电池
尺寸：(LxBxH) 118x58x38 mm
重量：150g含电池
常规涂层测厚仪的原理
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行
