日本三丰高精密表面粗糙度测量仪SV-3100
| 是否提供加工定制 |
否 |
类型 |
表面粗糙度仪 |
| 品牌 |
三丰 |
型号 |
SV-3100H4 |
| 测量范围 |
0-200MM |
测量参数 |
Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN), Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,Rt, Rti, R3 |
| 取样长度 |
0-200（mm） |
评定长度 |
0-200（mm） |
| 扫描长度 |
0-200（mm） |
电源 |
220 |
| 重量 |
140（kg） |
外型尺寸 |
766 x 482 x 1166mm（mm） |
三丰表面粗糙度测量仪
特点：
SV-3100系列产品可进行高精度、高水平分析，多功能3D表面粗糙度分析，微细轮廓测量，以及原有的表面粗糙度测量。
•自动调水平工作台、3轴调整台等外部设备的应用，有效增强了该产品的操作性能，同时也真正实现了自动测量。
•安装了专业资料分析软件SURFPAK-SV使用这一软件
测量软件功能: SURFPAK-SV
评估轮廓
P (主轮廓), R (表面粗糙度轮廓), WC, WCA, WE, WEA,
DIN4776轮廓、包络残余线、粗糙度motif、波形motif
评估参数
Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN), Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc (Ppi),Sm, HSC, mr, δc, plateau ratio,mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Δa, Δq, λa, λq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1,A2
粗糙度motif参数: Rx, R, AR, SR, SAR, NR, NCRX, CPM
波形motif参数: Wte, Wx, W, AW SW, SAW, NW
分析图表
ADC, BAC1, BAC2、功率谱图、自相关图、Walsh功率
谱图、Walsh自相关图、倾斜分布图、局部峰值分布图、
参数分布图
滤波类型2CR-75%, 2CR-50%, 2CR-75% (相位校正),
2CR-50% (相位校正),高斯-50%
截止波长*
λc: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
fl: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
fh: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm
取样长度(L)*
0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
取样长度
倾斜补偿、R平面(曲面)补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、
双曲线补偿、二次曲线自动补偿、多项式补偿、
多项式自动补偿
*可在0.025mm至最大移动长度间指定任意长度。
量大从优。
