高度仪测头测高仪测头
高度仪测头是高度仪测量的关键部分之一，决定着测高仪测量精度的高低。其性能是否优异直接影响着高度测量仪的测量精度、工作性能、使用效率和柔性程度。高度测量仪测头都是采用接触式探针与被测工件接触采集轮廓点，然后得出测量结果。
高度仪测头是探测系统最重要的一部分，其中精度、探测速度都与测高仪测头有着紧密的关系。其性能是否优异以及其发展水平能直接影响着高度仪的测量精度、工作性能、使用效率以及柔性程度。高度测量仪测头是限制测高仪精度和速度的主要因素，高度仪能否满足现代测量要求也依赖于测高仪测头系统的不断创新与发展。高度仪测头让全球用户都能实现国际标准的几何尺寸测量.雷尼绍测头是无与伦比的高精度测头，实现高精度测量。雷尼绍有着种类齐全的高度仪测头可供您充分选择，机械接触式测头，触发式测头，扫描式测头以及光学测头等。不管是触发式测头还是扫描式测头，都是采用接触式探针与被测工件接触采集轮廓点。
如果我们大量的标准产品仍无法实现您的检测目的，Renishaw定制产品部可提供独有的服务，为客户提供适合高度仪应用的一整套解决方案。该部门拥有应用、设计、工艺技术和制造方面的专业技术，在根据具体客户要求定做测头。对于许多应用场合来说，解决方案就在于测头的选择，因为它影响探测工件的特性、检测时间和测头性能。所有这些方面在定做测头设计中均予以了考虑。
型号 | TESASTAR测头 | TESASTAR-i测头 |
单向重复性 | 最大0.75 μm | 最大0.35 μm |
定位重复性 | 0.5 | 0.5 |
旋转速度 | 90°/2秒 | 90°/2秒 |
可调触发力 | 0.1N到0.3N | 0.1N到0.3N |
存储温度范围 | -30°C到60°C | -30°C到60°C |
操作温度范围 | 10°C到40°C(相对湿度80%) | 10°C到40°C(相对湿度80%) |
坐标方向 | ±X,±Y,±Z | ±X,±Y,±Z |
测针最大行程 | X/Y±20°，Z=+6mm | M3测针，长度可从21mm到100mm |
特点：具有省时，形状简单，制造容易，精度高等特点。 |
联系人：谭
晴 :13428715697
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联系人：彭易辉 :13428715776
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