间距高密度化的封装电路板检查，在追求机器性能的同时，优秀操作人员的技术也变得越来越不可或缺。飞针测试机FA1240-53融合了HIOKI长年累积下来的测量技术和扎实高精度的机械些技术，使高信赖性的封装电路板检查装置更具备了“易用性”。只需按照工作流程进行，而且在可视化的界面能够更加直观的进行操作，无论是谁来操作都能够执行高品质的检查。
特性：
1、 只需按照工作流程进行
l 全面考虑元器件高度的程序在短时间内完成
l 操作性提高
l 用户界面全面更新。大量运用了图形的操作界面能够进行更加直观的操作。
l 现场的能见度高，给予操作人员更体贴的操作感。
l 为追求易用性新开发的图形应用软件的操作界面，给予检查程序制作人员更贴心的界面。通过程序制作工作流程和操作帮助功能，检查程序的制作无需操作手册即可轻松完成。
l 和FIT-LINE检查数据制作系统UA1780（选件）一起使用，可将元器件外形信息全部考虑在内，自动回避手臂碰撞。
l 产线停止时间1/15。通过与UA1780组合使用，可将数据制作、由于调试引起的检查线停止时间实际缩短到15分之1。请务必体验一下新FA1240-50的人机交互界面。
2、 手臂干扰自动运算（和UA1780一起使用）
l FA1240和UA1780一起使用，可涵盖必要的元器件信息。通过这个，手臂和元器件的碰撞用装置自动计算，回避和元器件的碰撞。
l 繁琐费时的确认工作也可安全迅速的完成，大幅缩短了数据制作时间。
l 根据UA1780FIT-LINE数据，可提供个元器件的形状、大小、元器件高度等电路上的物理量信息，因此，FA1240是以这些信息为基础，充分考虑了探针和元器件之间的碰撞，自动选择最安全最合适的手臂。
l 对于装置没有特别的产品知识也没关系，在短时间内即可放心的进行测试。
3、 采用新型探针（更换简单、寿命长）
l 测试次数10倍
l 探针更换简要化：采用了提升探针跟换性的构造，大幅缩短了由探针更换引起的机器停止时间。在延长探针使用寿命的同时，大幅提高和改善机器的使用效率。
l 冲击力1/2
l 备有4端子探针（1172-46）：通过HIOKI独有的极细同轴探针，实现了最小相邻0.5mm只需2根探针即可进行4端子电阻测量法。低至数百微欧的低电阻也可在不受探针接触电阻的状态下进行高精度的测量。
高屋ICT测试仪APT-7400CJ 供应该系列产品有：FA-1240-51、FA-1240-52、FA-1240-53、FA-1241-51、FA-1241-52（FA-1241-51、FA-1241-52为FA-1240-51、FA-1240-52的CE对应机型）
