PCT / HAST高加速寿命测试试验箱(日本Hirayama)---上海/苏州/无锡/南京/天津/北京/武汉/西安/杭州/济南/广州
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PCT / HAST高加速寿命测试试验箱(日本Hirayama)
◆高加速寿命测试设备,源于内压力容器技术,已被成功开发以满足时代的需要。现在已是国际公认的用于加速评估电子零件、材料和设备的不可替代的仪器;
◆应用:LED、光伏、电子元器件、半导体、PCB、特种玻璃、薄膜材料、纳米材料、磁性材料等寿命测试;
◆测试标准:IEC、JIS、JEITA、EIA/JEDEC 、JPCA。
型号 | PC-422R8 | PC-702R8 |
箱内尺寸 | 420Φ×657Dmm | 700Φ×1066Dmm |
测试模式 | 不饱和/饱和 |
温度范围 | 105℃~150℃ |
温度波动范围 | ±0.5℃ |
湿度范围 | 75—100%RH | 65—100%RH |
湿度波动范围 | ±3%RH |
压力范围 | 0.019—0.208MPa |
水供给 | 从储水箱自动供给 |
我们的客户遍布于汽车、新能源、动力电池、半导体、LED、触摸屏、军工、航天航空、大学、科研院所、电子、新材料、船舶、第三方检测机构等行业。
苏州诺威特测控科技有限公司
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