仪器特点:
1.采用美国NAVITAR 0.7-4.5X,同轴共焦的光学设计变焦镜头,配上专为光学测量而设计的SONY 1/2″CCD彩色影像系统,将被测工件的表面纹理清晰地显现,轮廓层次分明,精确无误高性能,高质素镜头;
2.X/Y两轴均装有分辨率为0.001mm的精度的光学尺测量系统,X/Y轴的量测精密度高达(3+L/200)um;
3.强大的8段LED环形冷光源,可根据工件所需的照明条件进行光线调节;
4.可通过工作台上的快速释放开关在粗动和微动之间进行切换;
5.工作台铸铁采用天然失效处理,配合瑞士进口SCHNEEBERGER导轨,具有超高
精度;
6.完善的自动寻边界及去毛刺功能,减少人为误差,提高测量效率;
7.测量数据可输出到DXF\BMP\Excel\Word文档,图形可输出到CAD;
8.可视化编程,用户可根据导入的DXF文件进行编程,适用于批量检测;
9.图文并茂的报表输出功能,用户可以轻松的输出检测结果;
10.可升级Z轴非接触测量高度、深度、平面度。
参数介绍:
| 仪器型号 | QI-A2010 | QI-A3020 | QI-A4030 |
| QI-B2010 | QI-B3020 | QI-B4030 |
| X/Y/Z测量行程 | 200*100*150mm(调焦) | 300*200*200mm(调焦) | 400*300*250mm(调焦) |
| 外形尺寸 | 1000*600*1400mm | 1200*720*1600mm | 1200*720*1600mm |
| 载物台承重 | 15KG |
| 光栅尺分辩率 | 0.001mm(可选0.0001mm) |
| 线性精度 | (3+L/200)um,L=测量长度(单位:mm) |
| 重复性 | 2um |
| 镜头系统QI-A | 桂林光学多段倍率同轴共焦光学设计镜头 |
| 镜头系统QI-B | 美国NAVITAR多段倍率同轴共焦光学设计镜头 |
| 影像系统QI-A | 高解析度台湾MINTORN 1/2″彩色摄像机 |
| 影像系统QI-B | 高解析度日本SONY 1/2″彩色摄像机 |
| 放大倍率 | 光学放大倍率0.7-4.5X,影像放大倍率19-180X |
| 操作方式 | 手动 |
| 仪器重量 | 100KG | 120KG | 200KG |