X-Strata980(X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪)

 X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。

这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，

 能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，

帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系

数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别

出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱

门使样品更易放入。

应用:

--RoHS/WEEE

--有害元素痕量分析

--焊料合金成分分析和镀层厚度测量

--电子产品中金和钯镀层的厚度测量

--五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量

--贵金属合金分析和牌号鉴定

产品特点:

--100瓦X射线管

--多准直器配置

--同时分析元素含量和镀层厚度

技术参数:

--元素范围:S(16) to U(92)

--可测镀层层数:5层(4层+底材),可同时分析25种元素成份

  Celeron, 1.86 GHz,  40 GbHD, 512Mb RAM,相同或更高配置

  15”LCD, 1024 x 768

  MicrosoftTM XP SP2

--工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水

--XYZ轴行程:  203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)

--最大样品尺寸

  305 x 390 mm (12 x 15.4”)，样品高度为  50mm (2”)

  305 x 352 mm (12 x 13.9”)，样品高度为203mm (8”)

--舱室尺寸:   (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)

--外型尺寸

 高765mm (30.1”)

 宽700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended

 深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended

--重量: 135 kg