德国耶拿光学集团JENOPTIK T8000系列粗糙度轮廓仪，计算机集成化的高性能的表面 轮廓、粗糙度和波纹度测量仪，参数共计90多种，粗糙度和轮廓测量行程可达0-120mm 或0-200mm，多种型号可选。

 主要特点：

◆ 计算机集成化的高性能的表面轮廓\\粗糙 度和波纹度测量仪，可测参数共计90多种

◆ 粗糙度轮廓测量仪符合最新GB中国标准 ISO国际标准/ DIN德国标准/ MOTIF法国 标准/JIS日本标准

◆ 稳定和牢固的机动立柱保证了测头的自动 定位

◆ 在全部测量长度内都可测量粗糙度

◆ 在一个测量报告内分析粗糙度和轮廓特征

◆ 粗糙度和轮廓测量行程可达0-120mm或 0-200mm

◆ 机动立柱稳定牢固，保证测头的自动定位

◆ 海量采样点最多达1,200,000点(120mm)

◆ 软件结构清晰，界面图形化，操作简单