英国工业显微镜有限公司的Hawk 5000非接触式测量显微镜适用于使用者对测量和质量控制工序有着严格高性能要求。
Hawk的QC-5000提供对各种材料加工的复杂元器件的三维测量和可重复的高精度。从简单的手动测量到采用先进的数据导入、导出和分析的多功能建模,Hawk的QC-5000具有强劲的、灵活的解决方案,能满足苛刻严格的测量要求。
与其他高端测量系统区别之处是,Hawk提供真实的光学成像,保证测量的卓越精度和可重复性。
通过运用高反差对比、高分辨光学成像、以及用于简捷测量的强化表面清晰度,可获得对复杂元器件的精确测量。黑色在黑背景?白色在白背景?在任何的情况下,你能确保你的测量将是精确的并可重复的。
Hawk 的QC-5000测量系统专为一些用户要求紧公差的精确测量、精密元器件、或难以观察的形状,如反差小的塑料。QC-5000计算机软件集成通用的设置规则与强劲的数据处理和分析工具,包括统计学的运算管理(SPC)以及CAD输入/输出端口。
Hawk 5000是以全能和精密为主而设计,从而非常适用于对各类型复杂元器件形状的高精度质量管理工作。Hawk 5000给予令人钦佩的精确度、可重复性以及重现性,并可选配有各类的选配件和附属配件,其中包括选配成像采集、全几何的计算机数据处理和视频边缘辨别(VED)。
精密元器件的精确非接触式测量要求高分辨率、高对比度成像、和结合一个精密的测量平台。
Hawk 5000采用英国工业显微镜有限公司的专利高能光学技术,为精确和简易的测量,提供强化的表面清晰度。优异的光学透明度同时能同步地进行细致的视觉检测。
有所视频系统数码化光学信息。Hawk 5000与其区别之处,是运用一个没经过测量前处理的纯光学成像。元器部件必能准确地被测量。
Hawk 5000可选配各种高规范、高性能的测量平台,提供测量规格可达 400毫米x 300毫米。所有的测量平台均已通过非线性误差修正(NLEC)方法进行出厂前的预装校准,以保证优良的精度,这校准可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以符合ISO9000质量认证。结合0.5μm分辨力的测量译码器,这绝对保证该系统2μm的可重复性精度。*
数据处理由 QC-5000全几何的计算机软件完成,并最适用于测量复杂的三维元器件形状。QC-5000软件专为应付繁忙的质量控制部门的需求而设计,功能包括简化复杂的测量程序,提供强劲的数据导入、导出以及分析工具,亦包含统计学的运算管理(SPC)。
表面光和底部光照明装置选配件能使光源调节适用于任何测量应用。表面光照明装置由一组6-点光的无影环形灯提供,可加装同轴光装置(光线透过物镜)的选配件,用于观察盲孔或深层形状。快速更换的低放大倍率选配件为:x10倍、x20倍、x50倍和x 100倍(x20倍作为标配),配置高倍率物镜,并可装插在四孔位的物镜转换器上,其放大倍率为:x50倍、x100倍、x200倍、x500倍和x 1000倍。
轮廓 | 表面 | 轮廓和表面 |
* 采用200毫米 x 150毫米的测量平台(x200 的系统放大倍率,控温摄氏20度,使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点)
QC-5000自动测量系统Quadra-Chek计量软件是二维和三维几何元器件测量和检测的首要系统。QC-5000计量软件是非接触式测量系统Hawk系列里的高级界面装置,提供一个指令性处理方法,准许使用者能够沿着测量过程的每一步骤。专利的功能以及运用提升效益的视频边缘辨别(VED)可减少反复测量和简化复杂的工作步骤。
QC-5000采用直观的拖-放数据域、宏指令和数据库模板,还包括编程及自动化工具。
零部件成像归档
记录并存储零部件的图形测量结果、包括尺寸和为更新记录的其它信息。作为便利的、连持续的质量控制和归档的参考。
数据管理
集成工具允许以各种不同格式进行数据的采集、归档和检索,并采用自选定制的试算表格,从而简化复杂的管理或非标准计算。
输出
合理化对使用者、管理层、部门之间以及质量控制团队的交流。自选定制的报告能被发送到各种不同的应用、打印机或与数据库,并有能力在遍布企业或全球进行交换格式化的数据。
公差显示
QC-5000将数据集中的报告转换化为解释图形,操作员能够迅速得知附加了公差的几何形状测量结果。彩色编码的结果显示绿色或红色分别代表了合格或不合格。
综合数据库
现场进行保存、检索以及处理大量的测量数据。
报告整理
通过拖-放报告模板简化了数据选取和格式,建立高素质的报告。保存、打印或电邮测量结果报告至小组各成员进行审阅。
数据导出
方便地传输测量数据至CAD进行逆反推理应用,或至微软软件上进行数据处理。
Hawk 5000 | |
放大倍率选配件 | x10, x20*, x50, x100, x500, x1000 |
表面照明装置选配件 | 8点光 LED 环形灯* |
底部光照明装置 | 100瓦,底部光 |
数据处理器选配件 | QC-200 |
* 标准选配
高精密的测量平台选配件 | |||||
150毫米 x 150毫米 | 200毫米 x 150毫米 | ||||
测量范围 X | 150毫米 | 200毫米 | |||
测量误差 | U952D = 4+(5.5L/1000)μm† | U952D = 2+(4.5L/1000)μm† | |||
平台玻璃最大负荷 | 15公斤 | 20公斤 | |||
译码器分辨率 X | 0.001毫米 | 0.0005毫米 | |||
平台可重复性 X | 0.004毫米 | 0.002毫米 |
高性能的测量平台选配件 | |||||
300毫米 x 225毫米 | 400毫米 x 300毫米 | ||||
测量范围 X | 300毫米 | 400毫米 | |||
测量误差 | U952D = 15+(6.5L/1000)μm† | U952D = 15+(8.5L/1000)μm† | |||
平台玻璃最大负荷 | 25公斤 | 25公斤 | |||
译码器分辨率 X | 0.001毫米 | 0.001毫米 | |||
平台可重复性 X | 0.010毫米 | 0.010毫米 |
按键: | |
根据配置而定。 | |
* | 通过附加平台延伸件,可以将间距增大。 |
† | 其中 L = 以毫米为单位的测量长度(x200倍的系统放大率,控制温度摄氏20度,使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点)。 |
‡ | 基于使用10x倍的低倍率镜头(x100倍的系统放大率)。 |