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防止因球状氧化等引起BGA封装过程中发生焊接不良。由于可减少因高温预热引起的焊剂劣化,因此可抑制焊锡的氧化,在微小零件上实现良好的熔融性。 技术摘要:BGA焊接不良
熔融性能与不同类型无铅BGA的关系 | 回流热温度曲线的设计与安装部件密切相关,这种特定用途有助于研究同一部件上装配两种常见BGA包的情况 下图是插入层厚度为0.3mm的塑料包BGA和插入层厚度为1.6mm的薄片包BGA。 BGA :1.27mm间距 | 凸块 :Sn3.5Ag | 类型-1 :塑料包 | 类型-2 :薄片包 | PCB :FR-4, OSP, 0.6mm 直径垫 | 包温度 :230°C | 温度在220°C以上的时间 :30秒以上 |
由于各类型BGA的热质量需求不同,故为了保证两种部件上的锡球完全熔化,应注意热温度曲线的设计。 220°C228°C230°C 220 sec.230°C 231 sec. Type-1 | | | | Type -2 | | | |
上图说明:由于类型2的 BGA热质量比较大,为了保证锡球的完全熔化和粘合,在炉的回流浸入区域需要额外的约11秒的工作时间。类型1的 BGA在回流焊后可否承受热遭遇也应进行研究。是否全部装配了类型1的BGA也应观察确认,然后才可使用稍低些的波峰回流焊接温度。 以下是弘辉公司最新生产的无铅焊锡膏S3X58-M406系列的热温度曲线概图。在打开进程窗口以满足装配工所使用的实际成分混合需求时,本曲线图可用于无铅装配回流焊接,并可满足任何无铅混合物要求。请注意,锡铅回流焊浸入区域与设计的温度曲线不同。 |
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