供应检测COG导电粒子显微镜L3230DIC微分干涉显微镜

L3230 DIC微分干涉显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统(上下光源)、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

本设备主要用来检查：COG后导电粒子，FOG ，ITO导线表面划伤。

标准配置

型号：L3230DIC

目镜：大视野
WF10X(Φ18mm)

物镜:DIC 5X/0.12
工作距离：
26.1 mm

DIC 10X/0.25 工作距离：
20.2 mm

DIC 20X/0.40 工作距离：
8.8 mm

PL L40X/0.60（弹簧） 工作距离：
3.98 mm

DIC 观察系统:DIC推拉组

目镜筒三目镜，30º，双目镜组

落射照明系统:12V 50W 卤素灯,亮度与灯炮位置可调 ,内置视场光栏、孔径光栏、(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置，推拉式检偏器与起偏器.

调焦机构:粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置。

转换器 ：五孔(内向式滚珠内定位)。

载物台：双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)

透射照明系统：12V 30W 卤素灯,亮度可调，阿贝聚光镜
NA.1.25
可上下升降，蓝滤色片和磨砂玻璃 ，集光器，卤素灯照明适用(内置视场光栏)

深圳市润兴光学仪器有限公司专业供应检测COG导电粒子显微镜RX3230DIC微分干涉显微镜

效果以图片说话：