'
RENI金相工具显微镜RX系列
仪器用途：
该仪器适用于LED液晶、导电粒子彩色滤光片、手机屏幕、FPD模组半导体晶图片、FPC-PCB、IC封装光盘CD、图像传感器、CCD、CMOS、PDA光源等需要金相观察及精确测量行业。
仪器特点：
超高的工作距离，采用电机升降（日本“信浓”步进电机），方便调节，自带DIC装置插槽。
规格参数
| 仪器型号 | RX-200 | RX-300 |
| 光学系统 | 无限远光学系统、物镜管镜聚焦200mm、齐焦距离95mm |
| 目镜筒 | 铰链式三目镜筒、30度倾斜、瞳距55—75mm |
| 目镜 | 高眼点、大视场目镜WF10X/22 |
| 物镜转盘 | 5孔物镜转换器 |
| 明场物镜（N、A） | 平场半复消色差物镜 5X/0.14、10X/0.25、20X/0.40 |
| 物镜工作距离 | W.D:10.8mm、10mm、4.0mm |
| 偏光系统 | 光谱范围：480-550mm，含起偏镜、检偏镜 |
| 照明方式 | 12V 50W卤素灯落射照明、10WLED透射照明 |
| 粗调方式 | 电机升降（日本“信浓”步进电机） 200mm升降范围 |
| Z轴升降方式 | 电动导轨升降（日本"信浓"步进电机）、最小位移量:0.001mm |
| DIC装置 | 自带DIC装置插槽 |
| 载物台 | 8英寸快速移动平台（200X100mm有效行程） | 12英寸速移平台（300X200mm有效行程） |
| 数显分辨率 | 0.5μm |
| 测量误差 | （2+L/250）μm |
| 数显装置 | DP-100 |
| 摄影接口 | 0.5X 摄影接口 |
| CCD | 美国"TEO"43万像素彩色CCD |
| 测量软件 | RJ-J金相专用测量软件 |
| 选购件 | 50X/0.60 / 100X/0.55物镜（W.D 12.5)、暗场物镜、OLYMPUS微分干涉镜组 |
联系电话（TEL）：0769-23029940 (15220380598) 联系人：林会敏
RX-J测量软件介绍
1、自动测量功能：鼠标自动找直线、点选圆、框选圆区域自动圆、自动圆弧
2、手动CNC：在有夹具的情况下面可以进行半自动测量
3、光学测高功能
4、光学测量平面度
5、辅助对焦：帮助找到最清晰时候的Z位置 （辅助调焦提高测量精度）
6、图片输出：测量结果可以图片的格式输出 （相当于数码相机功能）
7、形位公差：圆度，直线度，平行度，垂直度，同心度
8、设置公差：可设置产品的实际尺寸超出范围，超出则以红色背景警示
9、CCD矫正：矫正图像畸变
10、轮廓跟踪：通过软件自动计算出工件的轮廓并显示出来 （清晰显示测量位置）
11、矢量绘图功能：图元字体可以无级的放大缩小
12、标注功能:半径标注,直径标注,角度标注,线性标注,对齐标注,文字标注,坐标标注
13、命令行：可以由命令行直接输入坐标信息，生成点、直线、圆、圆弧等，满足特殊需要
14、地图测量：可把所拍的工件局部照片精密的整合成工件全图，并保存为高像素的照片。还可打开以前所拍的地图，直接进行绘图、标注、修改等操作 （合成大图片）
15、虚拟测量：虚拟测量技术使影像测量软件可脱离硬件机台。在没有机台和产品的情况下，软件同样可以测量产品的尺寸 （可以脱机测量）
16、二维抄数：可将产品外形描出，描出的图形可转入AutoCAD形成工程图，可以做逆向工程
17、SPC分析：可以计算CA、CP、CPK、DRL、DRR、DR、MAX、MIN、AVG、RANGE、STD，并可以绘出X-R图，散点图，折线图，柱状图等
公司荣誉
'
