专业的镀层测试仪器HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，与普通EDXRF相比，分辨率高，其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告； E8-SPR采用小光斑设计，多种工作模型供选择，测试数据更精确，更稳定。
探测器
● 类型：X123探测器（采用原装进口高性能电致冷半导体探测器）
● Be窗厚度：1mil
● 晶体面积：25mm2
● 最佳分辨率：145eV
● 信号处理系统DP5
X射线管
● 电 压 ：0~50kV
● 最大电流 ：2.0mA
● 最大功率 ：50W
● 靶 材 ：Mo
● Be窗厚度 ：0.2mm
● 使用寿命 ：大于2万小时
高压电源
● 输出电压：0~50kV
● 灯丝电流：0~2mA
● 最大功率：50W
● 纹波系数：0.1%（p-p 8小时稳定性：0.05%
摄像头
● 微焦距
● 500万像素
准直器、滤光片
● 快拆卸准直器、滤光片系统
● 多种材质准直器
● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选
● 多种滤光片、准直器组合，软件自动切换
其他配件
●进口高性能开关电源
●进口低噪声、大风量风扇
● 外形尺寸 ：380 mm x 510mm x 365 mm （长x宽x高）
● 样品仓尺寸 ：360mm×330 mm ×50 mm （长x宽x高）
● 仪器重量 ：33.5kg
● 供电电源 ：AC220V/ 50Hz
● 最大功率 ：330W
● 工作温度 ：15-30℃
● 相对湿度 ：≤85%，不结露
