X射线与极紫外XUV光谱仪
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。
技术参数
波长范围 | 5-20 | 10-60 | 25-80 |
光源距离（m） | | 0.4-0.6 | 0.5-1.5 |
平场尺寸（mm） | 25.4 | 50 | 50 |
色散(nm/mm) | 0.5-0.7 | 0.7-1.1 | 0.9-1.3 |
光谱分辨率（nm） | 0.06 | 0.09 | 0.11 |
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升级波长范围 | 将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) |
探测器选择 | X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 |
光栅台 | 电控 |
工作环境 | <10-6mbar |
操作性 | 极易安装使用，用户自己即可安装使用 |
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技术优势介绍：
光源可以直接成像/超强信号采集能力
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。
-平场成像技术
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率
紧凑/模块化
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等）
结实耐用无需准直
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降
- 定制化
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等
典型客户：
The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH)
Los Alamos
Max Planck Institute
详细信息，请联系sales@advacedlight.cn 或致电021-60450828
