美国TSI 3910 纳米颗粒粒径谱仪
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美国TSI 3910 纳米颗粒粒径谱仪由于它使用简单，重量轻，电池供电等特点，使低成本的实时纳米粒径测量成为可能。
美国TSI 3910 纳米颗粒粒径谱仪 产品简介
TSI 3910型NanoScan SMPS打开纳米颗粒粒径常规测量的大门。这一革命性的粒径谱仪将TSI公司的SMPS™粒径谱仪集成在约一个篮球大小的便携箱内。容易使用，重量轻，电池供电等优点使NanoScan SMPS让研究人员多点采集纳米颗粒粒径分布数据成为可能。由TSI核心技术中衍生而来，NanoScan SMPS是一个创新的，低成本的实时纳米粒径测量的有效解决方案。
美国TSI 3910 纳米颗粒粒径谱仪 产品参数
测量模式：扫描 一 粒度分布
单颗粒 一 单一粒径颗粒浓度监测
粒径范围 ：10至420纳米
粒径通道 ：13
测量时间 ：60秒(45秒上扫．1 5秒回扫)，
粒度分布：1秒，单一粒径技术模式
粒子浓度： <1,000，000个/cm3
流量： 0.8±5%，进口：0.25±5%．样品
冷凝液 ： 分析纯（99.5%或更高）：异丙醇
注液系统 ：溶液机芯（≤6小时运作）：可选外置瓶
零点计数 ： ≤0.01个，
数据存储选项：3—8天，内置存储器，可选USB存储驱动器
显示： 彩色触摸屏
通信： USB
预热时间：<15分钟
真空源：内置
尺寸（长宽高）：45厘米×23厘米x 39厘米
