检查涂覆、电镀、化学镀所形成镀层厚度及其镀层均匀性

涂/镀层产品来料厚度检验

方法：

截面法（仲裁方法）

X射线荧光膜厚法

依据标准：

截面法：GB/T 6462-2005，ASTM B 487-85(2002)， ASTM B748-1990(2010)

X射线荧光膜厚法：ASTM B 568-98，GB/T 16921-2005，ISO 3497

     联系人 ：杨R  13316810114