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高功率老化测试机及老化测
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成都鑫弋科技有限公司
中国 成都
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品牌
Micro Control
型号
HPB-5B
HPB-5B
具备对于每颗芯片的独立温控功能,最大支持单颗芯片功率为150w
每块测试版可设定为独立的测试区
24个温度控制通道
每块测试板支持128个数字式I/O接口
测试芯片温度最大到150摄氏度
程序最高可设置温度为150摄氏度
每块测试板中,拥有11组可编程电压输入
每块测试板,提供最大800安培的功耗
基于ASIC结构的独立的引脚时序,测试以及数据模式
8个运行时序设置
系统最大支持384个芯片同时测试
LC-2
可对种类多样的芯片进行老化测试,诸如ASICs, FPGAs,图像处理芯片以及通信芯片
具备对于每颗芯片的独立温控功能,最大支持单颗芯片功率为20w
具备64个测试板的大容量系统
每块测试板支持128个数字式个I/O接口
独立的引脚时序,测试以及格式
最大测试板规格为12 1/2" × 24"
16个测试模式区域
每块测试版最大支持250安培的程序电源设置
HPB-4
具备对于每颗芯片的独立温控功能,最大支持单颗芯片功率为600w
测试芯片温度最大到150摄氏度
每块测试板支持128个数字式I/O接口
每块测试板中,拥有6组可编程电压输入
每块测试板,提供最大1600安培的功耗
对测试芯片提供液冷的撒热方式
提供power clamp模式的电压调节功能
系统最大支持112个芯片同时测试
LC-1
可对种类多样的芯片进行老化测试,诸如闪存芯片,DRAMS,SDRAMSY以及中等功耗的逻辑器件
具备64个测试板的大容量系统
每块测试板支持128个数字式个I/O接口
独立的引脚时序,测试以及格式
最大测试板规格为12 1/2" × 24"
16个测试模式区域
每块测试版最大支持60安培的可编程电源控制
每块测试版最大支持120安培的可编程电源控制(可选功能)
高功率老化测试机及老化测
¥100000元/件
回流焊机
¥1000000元/套
意大利JULIGHT公司的自混频干涉型激光测振仪
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美国OMS公司的多普勒激光测振仪
¥180000元/件
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