PHL大相位差应力双折射测量系统 WPA系列

产品简介：

   WPA-200系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。

该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器，最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

 特点

• 操作简单，测量速度可以快到3秒。
• 采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
• 测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
• 具有多种分析功能和测量结果的比较。
• 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。

主要应用

• 光学零件（镜片、薄膜、导光板）
• 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）
• 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL）
• 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）
• 有机材料（球晶、FishEve）

参数指标