AT硅油实验室型涂层克重仪
杭州扬涛科技有限公司
中国 杭州
产品属性
图文详情
品牌推荐
品牌
美国AT
型号
AT系列
类型
涂层测厚仪
测量对象
纳米级材料，硅片上薄膜，高功能薄膜，定向膜
测量范围
20nm-200μmμm
测量精度
+/-0.5%
准确度
+/-0.5%μm
电源
220V
加工定制
是
光斑大小
1mm
测量层数
最多可测10层
工作距离
10mm
测量时间
＜1S/点
