温度冲击应力筛选试验箱为了仿真不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,温度冲击应力筛选试验箱降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为:温度冲击应力筛选试验箱也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)。
可执行AMP(等均温变)、三箱冲击、两箱冲击、高温储存、低温储存功能
等均温速率可设定范围5℃~30℃(40℃)
满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求温度冲击应力筛选试验箱
采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行
除霜周期三天除霜一次,每次只需1小时完成
通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能
感测器放置测试区出(回)温度冲击应力筛选试验箱风口符合实验有效性
机台多处报警监测,配置无线远程报警功能
满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、温度冲击应力筛选试验箱DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求
产品&规范 | 厂商名称 | 高温 | 低温 | 温变率 | 循环数 | 循环时间 | 备注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 电子产品应力筛选 | 赛思 | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 5℃/min | 10~12 | 3h20min | SETH赛思 |
MIL-344A-4-16 电子设备环境应力筛选 | 设备或系统 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | SETH | SETH赛思
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MIL-2164A-19 电子设备环境应力筛选方法 | 赛思 | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 10℃/min | 10 | SETH
| 驻留时间为内部达到指定温度10℃时 |
NABMAT-9492 美军海军制造筛选 | 设备或系统 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | SETH
| 驻留时间为内部达到指定温度5℃时 |
GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选指南 | 组件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | SETH
| 达到温度稳定的时间 |
GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选指南 | 设备或系统 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | SETH
| 达到温度稳定的时间 |
笔记本电脑 | 主板厂商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | SETH | 东莞赛思 |