LED LM-80寿命老化检测系统---半导体系列
江西 LED-80 LED寿命老化试验机 LED LM80 LED光通维持寿命试验机 复叠式LED老化试验箱 厂家
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复叠式老化测试系统---半导体系列
商品规格：LED LM80老化测试 半导体系列
产品特点：
环境温度：能够有效控制LED老化的环境温度，即周围空气温度TA。
温度显示：能够做到TS,TA温度及湿度实时显示功能。
Ts 控制：能够精准控制每一颗LED的TS
Ta 控制：能够精准控制周围空气温度Ta，并满足LM-80的TA不低于TS-5℃
温度测试：在厂家指定位置TS的情况下，能够对每一颗LED的壳温进行在线式实时监测。
远程监测：能够对每一颗LED的TS,TA进行在线式实时监测，并且传输给远程电脑，做到数据同步和备份。
电流控制：每一颗LED由独立恒流电流源供电，可单独控制输出电流值，并满足LM-50的±0.3%的偏差要求。
时间采集：对于每一组LED被点亮的老化时间精确采集，并且符合LM-80老化时间±0.5%的偏差要求。
控制备份：有主从备份计算机，即可实现数据备份，也可实现控制备份。
过温保护：具备完善可靠的温度故障保护停机功能。
模块结构：整体式造型，便于安装、拆卸，采用快速接口，安培方便，提高工作效率。
适用种类：电路板安装形式（直接将灯珠放置在模块上测试）或夹具安装形式（将灯珠放置在夹具上测试）。
结构特点：低噪音、安全无泄露、高效低成本、维护便捷、性能稳定。
技术参数：
型号 | IESNA LM-8014C | IESNA LM-8016C | IESNA LM-8024C |
外部尺寸 | W×H×D(mm) | ||
1300×800×1000 | 1300×800×1000 | 1300×800×1000 | |
温/湿度范围 | 常温+5℃～150℃/≤65% R.H. | ||
温度分辨率/控制精度/波动度 | 0.01℃/±1.5℃/≤±0.5℃ | ||
测试时间和间隔 | ≥6000hrs 每隔1000小时采集一次数据，建议初始测试数据频率密集（0，24，48，120，480，1000…） | ||
条件 | case的温度Ts = 55℃, 85℃, T3rd(在规定外用户自选温度) | ||
环境的温度Ta | Ta≥Ts-5℃测试距Case的1.5mm的空气中温度 | ||
内箱风速 | ﹤0.3m/s | ||
测试容量 | 根据客户产品尺寸及功率大小不同，测试容量不同 | ||
采集器配备 | YOKOGAWA MW100数据采集器，根据机器选型的不同可分别配置20、30、40、60通道的采集器（也可根据客户要求配备） | ||
采集周期 | 10ch/1s , 60ch/1s(1个主单元内)高速测量，最短测量周期为1s | ||
存储功能 | 一个主单元可以混合3种测试周期 最大可支持2G的CF卡，（在60ch/100ms时可连续采集数据约10天，60ch/1s时可连续采集约3个月） | ||
采集时间分辩率 | 10ms~500ms | ||
电流量程 | 0-1A,0-10A,0-20A以上 | ||
老化电流精度 | 老化测试时输入电流应控制在额定电流的±3% | ||
测试电流精度 | 光学测试时输入电流应控制在额定电流的±0.5% | ||
电压量程/分辨率 | 0-150V（选配可达400V）/ 0.1V | ||
型号 | IESNA LM-8026C | IESNA LM-8034C | IESNA LM-8036C |
外部尺寸 | W×H×D(mm) | ||
1300×800×1000 | 1300×800×1000 | 1300×800×1000 | |
温/湿度范围 | 常温+5℃～150℃/≤65% R.H. | ||
温度分辨率/控制精度/波动度 | 0.01℃/±1.5℃/≤±0.5℃ | ||
测试时间和间隔 | ≥6000hrs 每隔1000小时采集一次数据，建议初始测试数据频率密集（0，24，48，120，480，1000…） | ||
条件 | case的温度Ts = 55℃, 85℃, T3rd(在规定外用户自选温度) | ||
环境的温度Ta | Ta≥Ts-5℃测试距Case的1.5mm的空气中温度 | ||
内箱风速 | ﹤0.3m/s | ||
测试容量 | 根据客户产品尺寸及功率大小不同，测试容量不同 | ||
采集器配备 | YOKOGAWA MW100数据采集器，根据机器选型的不同可分别配置20、30、40、60通道的采集器（也可根据客户要求配备） | ||
采集周期 | 10ch/1s , 60ch/1s(1个主单元内)高速测量，最短测量周期为1s | ||
存储功能 | 一个主单元可以混合3种测试周期 最大可支持2G的CF卡，（在60ch/100ms时可连续采集数据约10天，60ch/1s时可连续采集约3个月） | ||
采集时间分辩率 | 10ms~500ms | ||
电流量程 | 0-1A,0-10A,0-20A以上 | ||
老化电流精度 | 老化测试时输入电流应控制在额定电流的±3% | ||
测试电流精度 | 光学测试时输入电流应控制在额定电流的±0.5% | ||
电压量程/分辨率 | 0-150V（选配可达400V）/ 0.1V | ||
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