EDX8800E继承EDX系列产品的全部优点，并且配置真空测试系统以及SDD（硅漂移）探测器，元素测试范围更广、检出限更低、数据稳定性更好。广泛应用于电子、电器、塑胶塑料、五金、玩具、包装印刷以及军工产品等公司内部进行质量把控。适用于ROHS检测、卤素测试、玩具重金属检测和合金元素分析等各领域使用。

(全元素分析测试光谱仪   ROHS检测仪器   金属牌号分析仪器  XRF)产品特点

1.采用国际最先进的美国原装进口SDD（SILICON DRIFT DETECTOR）硅漂移探测器,分辨率更高,大大提高了轻元素的检出限，标准检出限较SI-PIN探测器提高100倍；测量范围更宽，基本涵盖了各种常规材料元素分析要求；

2.配置美国原装进口数据集成处理系统,数据采集速度更快，测量更稳定，重复性和长期稳定性更好；

3.配置最新开发的专用测量软件,集成多种图形计算方法,测量数据更精准，更稳定；

4.软件全面监控仪器主要核心部件运行状态,使用更安全；

5.配置专门开发的真空系统,真空性能更好,测试效果更佳；

(全元素分析测试光谱仪   ROHS检测仪器   金属牌号分析仪器  XRF)技术参数:

1.元素分析范围从钠(Na)到铀(U)

2..元素含量分析范围为1ppm到99.99％

3.最低检出限：1ppm

4.测量时间：60-200秒(可调)

5.仪器工作电源：AC220±5V

6.能量分辨率为129±5eV

7. X射线光管最大输出电流：1mA

8.极限压力：6.7×10-2 Pa

9.样品腔尺寸：610*320*100(mm)（不抽真空）/Φ100*h75(mm) (真空样品腔)

10.多次测量重复性(以标准样品为准)：±0.05％（高含量）/±0.002％(微量)

11.长期工作稳定性(以标准样品为准)±:0.06％(高含量）/±0.0025％(微量)

咨询周经理13306133395   公司网址：http://www.fsd-instrument.com/