langer RF2 近场探头 德国 RF2 Langer 现货 低价
LANGER EMV-Technik为德国近场探棒(Near Field Probe)制造公司。它针对现代电子产品，同时开发出直径2mm的近场探棒(Near Field Probe)，再加上识别率；为现在修改(Debug)产品，提供一个很好的解决工具。
修改测试可用於产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。
修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。
所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定辐射源的位置和辐射强度，从而找出辐射大的零件或电路。
RF 2∶
RF 2近场探头组包含4个无源磁场探头，用于在研发阶段测量电子模块上的磁场，频率范围为30MHz到3GHz。使用RF 2探头组的探头，可以逐步定位模块上高频磁场的干扰发射源。首先用探头LF-R 400-1和RF-R 50-1从远距离查找模块的干扰放射源，然后再用更高分辨率的探头LF-B 3-2和LF-U 5-2对干扰源进行定位。
通过相应地操作近场探头，能够测量出电子模块上电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并具备外皮电流衰减和电屏蔽。
这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部没有安装50Ω终端电阻。
＊ H-Field Probe RF-R 400 - 1
＊ H-Field Probe RF-R 50 - 1
＊ H-Field Probe RF-U 5 - 2
＊ E-Field Probe RF-B 3 - 2
＊ Cable SMB-BNC
＊ 175 x 140 x 32 mm
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