Langer LF1 100K-50Mhz   近场探头 现货 促销 

LANGER EMV-Technik为德国近场探棒(Near Field Probe)制造公司。它针对现代电子产品愈做愈精细，同时开发出直径2mm的近场探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高办识率；为现在修改(Debug)产品，提供一个很好的解决工具。

修改测试可用於产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。

修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。

所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定辐射源的位置和辐射强度，从而找出辐射大的零件或电路。

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LF 1近场探头组包含4个屏蔽无源近场探头，用于在研发阶段测量电子模块上长波、中波和短波区的射频磁场。使用LF 1探头组的探头，可以逐步定位集成电路上的干扰放射源。首先使用探头LF-R 400从远距离探测模块的干扰发射情况，接下来再用更高分辨率的探头LF-B 3、 LF-U 5和LF-U 2.5对干扰源进行更的定位。采用这些探头可以测量单个引脚、较大元件和结构件。
这些近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减和电屏蔽设计。
这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部没有50Ω的终端阻抗.