langer H3 瞬态场源探头 Field Source probe IEC61000-4-4
LANGER EMV-Technik为德国近场探棒(Near Field Probe)制造公司。它针对现代电子产品愈做愈精细，同时开发出直径2mm的近场探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高办识率；为现在修改(Debug)产品，提供一个很好的解决工具。修改测试可用於产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。
修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。
所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定辐射源的位置和辐射强度，从而找出辐射大的零件或电路。
langer H3 场源探头 Field Source probe IEC61000-4-4
配合IEC61000-4-4 脉冲群发生器使用的场源探头，用于定位被测物不能通过EFT 测试的原
因。 在进行IEC 61000-4-4【GB/T 17626.4】的抗扰度测试中，需要使用EFT 信号发生器
产生电快速瞬变脉冲群信号，使用耦合装置把脉冲群信号注入到被测设备的电源线或信号线。
如果设备不能通过EMC 测试，则测试本身不能提供如何解决问题的信息。 H3 瞬态电磁场场
源探头，适合于连接到标准的EFT 信号发生器的输出，产生脉冲式的电场和磁场，并作用到
被测设备内部的PCB、布线、电缆、分立元件或者集成电路上，从而定位电子产品内部
电磁敏感点位置，帮助工程师快速找出问题的根源，以最低的成本解决EFT 问题。
H3 场源组包含了各种尺寸的场源探头，可以由大到小，快速定位敏感点位置。
H3 场源组由4 个B-场源探头，5 个E-场源探头以及高压电缆和包装箱组成。
langer H3 瞬态场源探头 Field Source probe IEC61000-4-4
