EDX-720  

我公司提供更换高压包，更换X射线光管，探测器等部件。

一．基本性能指标
1.元素分析范围从钾(K)到铀(U)；
2.元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；
3.测量时间：60-200秒；
4.元素分析检出限达1PPm；
5.多次测量重复性可达0.1％；
6.长期工作稳定性为0.1％；
7.能量分辨率为165EV；
8.温度适应范围为15℃至26℃；
9.电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。）
10.相互独立的基体效应校正模型；
11.多变量非线性回收程序；
12.任意多个可选择的分析和识别模型；
13.一次可同时分析24个元素。
二．镀层厚度分析指标
1.无损、精确、快速测量各种电镀层的厚度；
2.膜厚分析精度:0.01um—0.05um；
3.极小的测定面积,可达0.1mm＊0.1mm；
4.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响；
5.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜；
6.电镀层可以是镀金、镀银、镀镍、镀锡、镀锌等；
7.可测量二元合金、三元合金等的镀膜厚及成份；
8.可分析10层以上的镀层；
9.简捷、明了的测厚分析软件界面；
10.可分析电镀溶液中的金属离子浓度。
三．欧盟ROHS指令分析指标
1.无损、精确、快速测量各种塑料、电子元器件、电器、金属、溶液等物件里面的有毒有害元素；
2.对镉（Cd）、铅（Pb）、铬（Cr）、溴（Br）、汞（Hg）的检出限达1PPm；

                                
 

EDX-720 NEW !    EDX-800HS/900HS 迅速测定ppm级的有害金属！  应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。  应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令，保证产品和用料的绿色环保。 Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是最近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。 为满足这种需求，畅销全球的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。 EDX-720的新功能：  更高灵敏度的新型能量色散型X射线荧光分析装置！  在所有机型上配备全新的测定·解析功能！追求更高的分析精度。 通过配置新型1次滤光片和高计数电路，灵敏度比以往机型提高2倍以上！   配备新型1次滤光片 为提高Cd、Pb等有害重金属的检测灵敏度，采用2 种新型滤光片。通过提高S/N比、降低散射线，得到了比以往机型更高的灵敏度。   计数系统的改进   经过改进，系统能够更高效地检测从样品产生的X射线荧光。以此降低了检测器的饱和，可进行较以往机型更高输出的测定。并有助于提高分析精度。 PVC 树脂样品的测定结果比较 根据目的自动选择符合测定时间、样品类型的工作曲线！   时间缩短的功能   通过在测定前预先设定目标管理精度，当达到管理值时，自动结束测定。特别是在目标元素含量较高时，可在短时间内自动结束测定。既提高了分析效率，又无需以往根据经验设定测定时间，就可得到目的精度的分析结果，因此，便于管理。 在测定前输入目的精度 工作曲线自动选择功能   使用工作曲线法进行定量时，需要使用与实际样品具有相近组成/形态的标准样品制作工作曲线。根据主成分峰的差异，判断样品类型，选择最适合的工作曲线，进行定量。 比如，在PVC树脂和PE树脂分析中，通过监测有无Cl，对每一样品自动选择最适合的工作曲线。       >> EDX-720/800HS/900HS配备自动开关式大型样品室，可放入最大300mmφ×150mmH的样品。 >> 标准配备从薄膜分析到有机分析的定量分析软件。 >> 标准配备无需标准样品的含量匹配软件。 >> 标准配备实现高灵敏度分析的5种滤光片。可提高氯(Cl)、镉(Cd)等的检测灵敏度。 >> 结构紧凑的台式机，主机尺寸为W580×D650×H420mm。 >> 样品图像观察采用CCD装置，便于观察样品位置。特别有助于确认微小部分的分析位置。