特 性

说 明

类 型

XF-R 400 – 1：直径约25mm，高灵敏度，低分辨率，可以距离被测物10cm使用，检测场的分布，用于磁场源定位，分析干扰源。

频率范围 30 MHz－6 GHz。

直径约25mm。

XF-R 3 – 1：探头尺寸小，分辩率为毫米级。

在布线、IC管脚、旁路电容及EMC元件等区域，通过移动探头，可以检测磁场的分布和方向。

频率范围30MHz-6GHz。

分辨率约1 mm。

RF-B 3-1：用于检测扁平单元表面垂直发射的磁场。

对于PCB有些有遮挡部分的电路，可能无法用XF-R 3 – 1测量场方向，这时可以使用RF-B3-1来测量。

频率范围30MHz－6GHz，分辨率约2mm。

XF-U 2,5-1：用于有选择性地检测细小布线、元件连接处、电容器、IC管脚等的电流频谱。探头顶端有1个约0.5mm宽的磁场敏感的缺口，测试时将这个缺口放在布线、IC或电容器的连接点上。

频率范围30MHz-6GHz，分辨率约0.5mm。

XF-E 10：探头的尖端仅有0.5 mm宽，用于测试信号线在其表面发射的电场。内部的屏蔽设计，能防止邻近导线对测试结果的影响，能对每根导线进行单独测量。

频率范围30MHz-6GHz，分辨率约0.2mm。