【供应专业的瑞士TESEQ（特测）振铃波测试仪】价格_厂家

品牌

瑞士特测TESEQ

型号

NSG 3060

频率分辨率

1HZ

内阻

12，30,200Ω

测试时间

1-- 9999个脉冲，连续s

加工定制

是

外形尺寸

449X328X 565mm

重量

22kg

依据标准

IEC61000-4-12

标准

ANSI C62.41

电压

最高6.6KV

频率

100KHZ

耦合

ANSI / IEC / 外部

瑞士TESEQ品牌的NSG3060设备，可以扩展振铃波测试，是业内工作最稳定的设备，设计先进，质量好。

依据标准：

IEC61000-4-12，ANSI C62.41

主要参数：

电压：最高6.6kV

频率：100kHz

内阻：12Ω, 30Ω,200Ω

优点：

电压输出高、测试仪扩展性强

、内阻阻值全、本地化维修

NSG 3060浪涌测试系统特点

NSG 3060浪涌测试系统可完成符合CE标识和ANSI C62.41标准的测试，包括对综合波、振铃波和EFT电快速瞬变脉冲群以及PQT电压跌落的测试。其多样性的扩展能力使得它能够灵活配置来适应更广阔的应用场合。

利用NSG 3060浪涌测试系统独有的“主－从”结构概念，新的脉冲发生器模块可简便快速地增加到原来的系统中。这种技术允许利用存储在从控制器上的校准数据和校正因子对单个脉冲模块分别进行校准。新模块的安装非常简便, 无需返回整个系统对其进行校准。

采用技术先进的组件，NSG 3060在开关切换技术和相位精度方面建立了新的标准，并且超越了现行标准的要求。采用功能强大的处理器使得NSG 3060浪涌测试系统能够完全满足ANSI C62.41标准中所规定的独特的耦合要求。ANSI C62.41标准要求脉冲幅值要随着交流电源脉冲相位、电压的幅值的变化而变化。

在新NSG 3060系列里边最引人注目的变化就是集成了具有超高对比度的7”彩色触摸屏。依据要求，可利用集成在NSG 3060上的键盘或带有按键的滚轮进行灵敏度调节。

友好的图形显示界面使得测试速度加快。每个参数值清晰可见，所有的设置可以通过大尺寸的触摸式输入按钮进行快速选择和修改。不需要用笔，就可以快速简单的编写程序。可轻易创建一个多步测试程序并且可方便地更改该多步测试程序的测试步骤或参数。

选择“专家模式”允许用户在测试过程中，利用滚轮手动地更改参数，这是一种激活关键阈值的快速有效的方法。

利用集成在NSG 3060的DTA(直接测试程序调用)功能，只要少数几个“点击”便可触发标准化测试，从而可快速可靠地获得测试结果。

利用简单易用的SD记忆卡读卡器，固件可快速下载，用户指定的测试将会完整的保存下来。一般情况下，存储空间是足够大的。在存储空间不够用的情况下，可用商用SD记忆卡替换，现存测试文件可很方便地拷贝到容量更大的SD记忆卡。

NSG 3060有以太网端口，以便PC对它进行控制。Windows软件简化了测试程序，并允许对各种不同脉冲类型的复杂测试序列进行编程。在测试操作期间，可生成测试报告，同时允许操作者在测试过程中输入观察值以提高长时间测试的效率。

*模块化，可扩展系统

*浪涌电压高达6.6 kV

*7”彩色触摸屏，便于操作

*IEC 和ANSI 两种耦合方式

*DTA (直接测试程序调用) 可快速提供标准化测试设置

*测试过程中也可以更改测试参数

*大量可选测试附件

*高精度开关切换技术，满足ANSI 耦合方式的要求

NSG 3060瞬态传导抗扰度模拟发生器

NSG 3060有以太网端口，以便PC对它进行控制。Windows软件简化了测试程序，并允许对各种不同脉冲类型的复杂测试序列进行编辑。在测试操作期间，可生成测试报告，同时允许操作者在测试过程中输入观察值以提高长时间测试的效率。

脉冲发生器可产生以下提到的脉冲：

1.2/50—8/20us综合波脉冲（群合浪涌脉冲）

符合IEC/EN 61000-4-5和ANSI（IEEE）62.41脉冲

参数	值
脉冲电压（开路）	±200V至6.6KV（以1V为步长）
脉冲电流（短路）	±100A至3.3KA
阻抗	2/12Ω
极性	正/负/交替
脉冲重复：	5—20s,长达600s（步长为1s）可根据所选的脉冲电压和EUT供电电压减小
测试时间	1至9999个脉冲，不间断
相位同步	异步、同步0至359°（以1°为步长）
耦合	外部/ANSI/IEC

0.5us/100KHz振铃波

符合IEC/EN 61000-4-12和ANSI（IEEE）C62.41脉冲

参数	值
脉冲电压（开路）	±200V至6.6KV（以1V为步长）
脉冲电流（短路）	±16.6A至±550A，±10% ±6.6A至±220A，±10% ±1A至±33A，±10%
阻抗	12Ω/30Ω/200Ω
极性	正/负/交替
脉冲重复：	5—20s,长达600s（步长为1s）可根据所选的脉冲电压和EUT供电电压减小
测试时间	1至9999个脉冲，不间断
相位同步	异步、同步0至359°（以1°为步长）
耦合	外部/ANSI/IEC

5/50ns脉冲群（EFT）

符合IEC/EN 61000-4-4标准

参数	值
脉冲幅度	±200V至4.8KV（以1V为步长）—开始电压 ±100V至2.4KV（50Ω匹配系统）
脉冲群频率	100Hz至1000KHz
极性	正/负/交替
重复时间	1ms至4200s(70min)
脉冲群时间	1ps至1999s,单个脉冲，连续
测试时间	1s至1000h
相位同步	异步、同步0至359°（以1°为步长）
耦合	外部/ANSI/IEC

电压跌落和变化

符合IEC/EN 61000-4-11标准

参数	值
电压跌落和变化	从EUT输入的电压跌至0V、0%
可选变压器的Uvar	±16.6A至±550A，±10%
步进变压器的Uvar	0%；40%；70%；80%；
峰值冲击电流能力	500A（230V时）
切换时间	1至5PS（100Ω负载）
事件时间	20ps至1999s、循环1至99’999个周期
测试持续时间	1s至70'000min;1至99'999时间；连续
重复时间	40ps至35min、循环1至99999次
相位同步	异步、同步0-359°（以1°为步长）

电压变化测试

符合IEC/EN 61000-4-11标准

参数	值
带有可选变压器的Uvar	0至265V（以1V为步长）、0至115%（以1%为步长）
重复时间	1ms至35min,循环1至99999次
测试时间	1ms至5s,循环1至250次（50Hz）循环1至300次（60Hz），离散
重复时间	10ms至10s；循环1至250次（50Hz），循环1至300次（60Hz）
测试时间	1s至99999min、1至99999个周期、不间断
相位同步	异步、同步0-359°（以1°为步长）

INA753产生的群脉冲磁场

符合IEC/EN 61000-4-9标准

参数	值
场	1至1200A/m（以1A/m为步长）
极性	正/负/交替
重复时间	5s至10min（以1s 为步长）
阻抗	2Ω
线圈因数	0.01至50.00
测试时间	1至9999个脉冲，不间断
相位同步	异步、同步0至359°（以1°为步长）

MFO 6501/MFO 6502产生的工频磁场

符合IEC/EN 61000-4-8标准

场	1至40A/m(以1A/m为步长)
频率	50/60Hz
线圈因数	0.01至99.99
测试时间	1至9’999脉冲，不间断

内部耦合网络

参数	值
设备供电	250VAC/115VAC
去耦衰减	残余脉冲：最多15% 电源端串扰：最大15%
符合标准的脉冲	1.2/50ps可达6.6KV
脉冲耦合	8/20ps可达3.3KA
电源去耦	1.5mH 0% /+35%
连接	来自发生器的脉冲输入 EUT供电的电缆连接器 CDN的电源连接线
EUT 供电	单相
EUT VAC	24至270Vrms,50/60Hz(零相位)，最大400Hz
EUT VDC	0至270VDC
EUT 电流	1×16Arms不间断（温度监控） 1×25Arms 30分钟
EFT（突发）	将所有的线路与参考地（GND）间耦合的标准耦合方式 IEC/EN 61000-4-4和ANSI(IEEE)C62.41 L,N,PE → 参考GND
	将所有的线或线间组合与参考地进行耦合 L → 参考GND N → 参考GND PE → 参考GND L,N → 参考GND L,PE → 参考GND N,PE → 参考GND
综合波形脉冲	IEC/EN 61000-4-5 线到线（2Ω） N→L/ L→PE/N→PE 线到地（12Ω） L→PE/N→PE→L,N→PE
综合波&振铃波	ANSI(IEEE)C62.41 基本1&2 L,N→PE&L→N 增强1&2 N→PE&L→PE 诊断1&2 N,PE→L&L,PE→N
振铃波	IEC/EN 61000-4-12 12Ω/30Ω/200Ω N→L/L→PE/N→PE L→PE/N→PE/L,N→PE
PQT	相位L的电压跌落和变化

尺寸/重量

NSG3060尺寸	449（17.7"）×328（12.9"；7HU）×565mm(22.2"),W×H×D
NSG3060重量	22kg(48.5 Ib)
CDN 3060-C16尺寸	449（17.7"）×238（13.3"；5HU）×565mm(22.2"),W×H×D
CDN 3060-C16重量	20kg(44 Ib)

可选器件

CDN 3063-C32：符合480VAC ph-ph,32A的浪涌和脉冲群综合耦合网络

CDN 3063-C63：符合480VAC ph-ph,32A的浪涌和脉冲群综合耦合网络

CDN 8014/8015：用于脉冲群的容性耦合钳

CDN 163：每相100A（所有脉冲与参考地耦合）的脉冲群耦合网络

CDN 117/118：用于信号线和数据线的耦合网络

CAS 3025：脉冲群/EFT检测设备

MD 200A：电压差分探头

MD 300：电流探头

符合IEC/EN 61000-4-11标准的附件

INA 6501：手动步进变压器，16Aac,0/40/70/80%

INA 6501：自动步进变压器，16Aac,0/40/70/80%

VAR 6501：自动调节变压器，7.5A

VAR 6502：自动调节变压器，2×16A

VAR 6503：手动调节变压器，7.5A

符合IEC/EN 61000-4/-8-9标准的附件

MFO 6501：手动磁场测试选件-4-8

MFO 6502：自动磁场测试选件-4-8

INA 701：磁场线圈1×1米；与MFO配合，最大3.6A/M-4-8；浪涌*最大值1200A/m-4-9

INA 701：磁场线圈1×1米；与MFO配合，最大40A/M-4-8；浪涌*最大值1200A/m-4-9

*推荐采用脉冲成形适配器INA753与浪涌发生器配合

INA 753：脉冲成形适配器

英文

NSG 3060 THE MODULAR SOLUTION FOR 6 KV APPLICATIONS

Teseq's new NSG 3060 conducted immunity generator takes the proven, user-friendly design of

the highly successful Modula series to a new level. This innovative design uses modular architecture

to provide a versatile system that can be configured for basic testing needs and expanded to meet the

needs of sophisticated test laboratories.

Designed to fulfill requirements for CE mark and ANSI C62.41 testing, the NSG 3060 performs

tests for Combination wave surge, Ring wave and Electrical Fast Transient (EFT) pulses as well as Power

Quality Testing (PQT). Extensive expansion capabilities enable the system to be configured for a much broader range of applications.

New pulse generator modules can be added to the original system quickly and easily withthe NSG 3060's unique "Master-Slave" concept. This technology allows inpidual pulse modules to be calibrated separately with the calibration data and correction factors stored on the slave controller. New modules can be installed with no need to return the entire system for calibration.

Using state of the art components, the self-contained modules set new standards with respect to switching and phase accuracy and exceed the existing standards' requirements. With its powerful processors, the NSG 3060 can completely fulfill the unique coupling requirements specified by ANSI C62.41. This standard requires that the pulse amplitude be adjusted for the phase position of the pulse on the AC mains, and for the amplitude of the mains voltage.

A 7" touch panel display with superb contrast and color is the most striking feature of the new NSG 3060. For fast and efficient data entry, input devices include an integrated keyboard and a thumbwheel with additional keys for sensitivity adjustment.

The user-friendly graphic display speeds test setup. Each parameter's value is highly visible and all settings can be quickly selected and modified with the generously sized touch input buttons. A stylus is not necessary, and ramp functions are programmed quickly and easily. Multi-step test procedures can be created and their sequence or parameter values changed easily.

With Expert Mode users can make manual parameter changes using the thumbwheel while a

test is under way, providing an effective and fast method for identifying critical threshold values.

The Test Assistance (TA) function allows users to initiate standardized test with just a few "clicks" to achieve quick, reliable results in a development environment.

An easily accessible SD memory card allows firmware downloads to be performed quickly and tests to be saved. In the rare case that storage space is not sufficient, the card can be replaced by a commer- cially available SD memory card and existing test files can be easily copied onto the larger SD card.

*Modular, expandable system

*Surge voltage to 6.6 kV for over- testing

*Easy to use 7" color touch screen

*IEC and ANSI coupling methods

*TA (Test Assistance) provides fast standard test settings

*Parameters can be changed while test is running

*Wide range of optional test accessories

*High accuracy switching techno- logy meets ANSI coupling require-ments

The NSG 3060 has an Ethernet port for external PC control. The Windows-based control software simplifies test programming and allows compilation of complex test sequences with perse pulse types. Test reports can be generated during the test operation, allowing the operator to enter observations as the test progresses and increasing the efficiency of long-term tests.

The NSG 3060 performs tests according to the following specifications:

Combination wave pulse 1, 2/50 - 8/20 µs (Hybrid-Surge pulse)

Pulse conforms to IEC/EN 61000-4-5 and ANSI (IEEE) 62.41

Parameter	Value
Pulse voltage (open circuit):	±200 V to 6.6 kV (in 1 V steps)
Pulse current (short circuit):	±100 A to 3.3 kA
Impedance:	2/12 Ω
Polarity:	positive / negative / alternate
Pulse repetition:	5* to 20 s, up to 600 s (in 1 s steps) * derated depending on selected pulse voltage and EUT supply voltage
Test duration:	1 to 9999 pulses, continuous
Phase synchronization:	asynchronous, synchronous 0 to 359º (in 1º steps)
Coupling:	ANSI / IEC / external

Ringwave 0.5 µs/100 kHz

Pulse conforms to IEC/EN 61000-4-12 and ANSI (IEEE) C62.41

Parameter	Value
Pulse voltage (open circuit):	± 200 V to 6.6 kV (in 1 V steps)
Pulse current (short circuit):	±16.6 to ±550 A, ±10% ±6.6 to ±220 A, ±10% ±1 to ±33 A, ±10%
Impedance:	12/30/200 Ω
Polarity:	positive / negative / alternate
Pulse repetition:	5* to 20 s, up to 600 s (in 1 s steps) * derated depending on selected pulse voltage and EUT supply voltage
Test duration:	1 to 9999 pulses, continuous
Phase synchronization:	asynchronous, synchronous 0 to 359º (in 1º steps)
Coupling:	ANSI / IEC / external

Burst (EFT) 5/50 ns

Pulse conforms to IEC/EN 61000-4-4

Parameter	Value
Pulse amplitude:	±200 V to 4.8 kV (in 1 V steps) - open circuit ±100 V to 2.4 kV (50 Ω matching system)
Burst frequency:	100 Hz to 1000 kHz
Polarity:	positive / negative / alternate
Repetition time:	1 ms to 4200 s (70 min)
Burst time:	1 µs to 1999 s, single pulse, continuous
Test duration:	1 s to 1000 h
Phase synchonization:	asynchronous, synchronous 0 to 359º (in 1º steps)
Coupling:	ANSI / IEC / external

Dips & drops

conforms to IEC/EN 61000-4-11

Parameter	Value
Dips & drops:	From EUT voltage input to 0 V, 0%
Uvar with optional variac:	depending on model (VAR 650x)
Uvar with step transformer:	0, 40, 70, 80% (INA 650x)
Peak inrush current capability:	500 A (at 230 V)
Switching times:	1 to 5 s (100 Ω load)
Event time:	20 µs to 1999 s, 1 to 99'999 cycles
Test duration:	1 s to 70'000 min, 1 to 99'999 events, continuous
Repetition time:	40 µs to 35 min, 1 to 99'999 cycles
Phase synchronization:	asynchronous, synchronous 0 to 359º (in 1º steps)

Variation test

conforms to IEC/EN 61000-4-11

Parameter	Value
Uvar with optional variac:	0 to 265 V (in 1 V steps), 0 to 115% (in 1% steps)
Repetition time:	1 ms to 35 min, 1 to 99'999 cycles
Test duration:	1 ms to 5 s, 1 to 250 cycles (50 Hz); 1 to 300 cycles (60 Hz), abrupt
Repetition time:	10 ms to 10 s; 1 to 250 cycles (50 Hz), 1 to 300 cycles (60 Hz)
Test duration:	1 s to 99'999 min, 1 to 99'999 events, continuous
Phase synchronization:	asynchronous, synchronous 0 to 359º (in 1º steps)

Pulsed magnetic field in conjunction with INA 753 and INA 701 or 702

conforms to IEC/EN 61000-4-9

Parameter	Value
Field:	1 to 1200 A/m (in 1 A/m steps)
Polarity:	positive / negative / alternate
Repetition time:	5 s to 10 min (in 1 s steps)
Impedance:	2 Ω
Coil factor:	0.01 to 50.00
Test duration:	1 to 9'999 pulses; continuous
Phase synchronization:	asynchronous, synchronous 0 to 359º (in 1º steps)

Power magnetic field in conjunction with MFO 6501 / MFO 6502 and INA 70x

conforms to IEC/EN 61000-4-8

Coupling networks CDN 3061

Field:	1 to max. 40 A/m (in 1 A/m steps)
Frequency:	50/60 Hz
Coil factor:	0.01 to 99.99
Test duration:	1 to 9'999 pulses, continuous

Parameter	Value
Instrument supply:	230/115 VAC
Decoupling attenuation:	Remanent pulse 15% max. Mains side crosstalk 15% max.
Mains decoupling:	1.5 mH 0% + 35%
Connections:	Pulse input from generator Cable connector for EUT supply Power inlet for CDN
EUT supply:	1-phase
EUT VAC:	24 to 270 Vrms, 50/60 Hz (phase - neutral), 400 Hz max
EUT VDC:	0 to 270 VDC
EUT current:	1 x 16 Arms continuous (temperature controlled) 1 x 25 Arms for 30 min
EFT (Burst)	Standard coupling all lines to ref ground (GND) IEC/EN 61000-4-4 and ANSI (IEEE) C62.41 L, N, PE ref GND Any lines and combinations to ref GND: L → ref GND N → ref GND PE → ref GND L, N → ref GND L, PE → ref GND N, PE → ref GND
Combination wave pulse:	IEC/EN 61000-4-5 Line to line (2 Ω) N→L / L→PE / N→PE Lines to ground (12 Ω) L→PE / N→PE
PE Combination wave & ring wave:	ANSI (IEEE) C62.41 Basic 1 & 2 L, N→ PE & L→N Supplemetal 1 & 2 N →PE & L→PE Diagnostic 1 & 2 N, PE →L & L, PE→N
Ring wave:	IEC/EN 61000-4-12 12/30/200 Ω N → L / L→PE / N→PE L →PE / N→PE / L, N→PE
PQT:	Dips & drops to phase L