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品 牌: |
JRS |
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型 号: |
QFN-p0.4/0.5-(16-104)/(16-88)p (翻盖式) |
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封装间距: |
QFN 间距为0.4/ 0.5mm均可使用 |
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适用体积: |
最大尺寸(12*12)mm,最小尺寸(3*3)mm以内的整数正方体规格的IC均可使用,注:没有11*11 |
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PIN脚规格: |
常规 |
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产品用途: |
QFN芯片测试烧录老化 |
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特 点: |
0.4间距104PIN内.0.5间距88PIN内可使用同一块PCB板,适合人工烧录,降低生产成本 |
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物理特性 |
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弹簧寿命: |
高次数使用(使用破壞性條件測试:每分鈡80次撞打,依不同产品從3万~5万次),。 |
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阻值特性: |
低阻抗值(初次到最高次数相差在15毫欧内,代表測試過程中接觸穩定,誤測机率降底,品质穩定) |
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接触件材质: |
日本NGK鈹銅 |
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绝縁体材质: |
PEI&PES |
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接触件工艺: |
鈹銅沖压.电鍍.裁切.組裝 |
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制作工艺: |
五金沖压,塑膠成型,半自动与人工組裝 |
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检测工艺: |
金屬件抽樣做盬水喷霧.高温老化.沾錫宊驗,組裝成品抽樣做破壞性測试(可使用次数),接觸阻抗,耐电压,絕緣阻抗. |
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氧化标准: |
密封恒温干燥放置360天 |
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适用温度: |
负65℃—正180℃ |