LJ-G系列可在X及Z方向上测量物体表面的轮廓。可透过28种测量模式测量表面轮廓上的高度、宽度及间隙。

• 可在8个点上同时进行测量。
• E3-CMOS 影像传感器提供稳定的测量
• Quatro连接系统可实现同类中最高的取样速度，达到3.8ms。
• 3.8ms的高速取样速度，F.S.的0.1％的高精度
• 简单设置菜单 (同类最快)