目前市场上能找到的测厚仪有：纸张测厚仪、薄膜测厚仪、涂层测厚仪、镀层测厚仪、在线测厚仪、超声波测厚仪、压力测厚仪、白光干涉测厚仪、电解测厚仪、α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计，荧光射线测厚仪等方式方法。
 
　　纸张测厚仪：适用于４mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
 涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。
 超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
 还有一种是激光测量厚度的产品，它的叫法很多激光位移传感器 、激光厚度传感器。激光位移传感器的原理就是采用激光三角原理和CCD光电传感器进行非接触位置、位移测量的精密传感器。既可广泛应用于几何量（位置、位移、厚度、半径、形状等）的工业测量--特别是非接触在线测量，也可以扩展应用于许多物理量（如温度、重量、压力、容积等等）的测量，只要设法将这些物理量通过适当的方法转化为微位移量即可。

13652311601（谢）