德国PHYNIX分体式测厚仪Surfix北京泰亚赛福现货供应
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北京泰亚赛福科技发展有限责任公司
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网址：www.tayasaf.com
特点：世界最新科技，手机外形
.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
自动识别量程：0-1500µm，
可测铁基体上涂镀层和有色金属
显示德国PHYNIX公司制造。
碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
技术参数：
特点：世界最新科技，手机外形，最小测面积菜单操作，分辨率0.1µm，两类基体自动识别量程：0-1500µm，0-60mils，90°直角探头九种规格，统计值在线显示德国PHYNIX公司制造。
技术参数： |
测量范围 | 0-1500µm,0 - 60mils |
误差 | ±(1µm+1%读数） |
分辨率 | 0.1µm或小于读数的2% |
显示 | 背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示 |
基体最小面积 | 5mmX5mm |
基体最小曲率 | 凸面：1.5mm凹面：5mm |
基体最小厚度 | F型：0.2mm,N型：50µm |
校准 | 厂家校准，零校准，校准箔校准 |
数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃（可选配150℃） |
电源 | 两节1.5伏五号碱性电池 |
仪器尺寸 | 137x66x23mm |
符合标准 | DIN，ISO，ASTM，BS |
分体式系列型号：
1、两用基本型膜厚仪 型号Surfix B FN
仪器1120201201基本型,特快反应速度,分体测头.可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层.量程:0-1500μm,全量程内误差<±1μm+1~3%读数,分辨率0.1μm.手机式外形和操作指南.背景光照明,最小碳化钨超耐磨测头
２、两用统计型膜厚仪 型号Surfix FN
仪器1120201203碳化钨超耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80测值,可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层,量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明,特小基面积(5x5mm)有红外接PC及打印机
３、铁基基本型测厚仪 型号Surfix B F
仪器1120201205特快反应速度，分体测头。量程：0-1500μm,全量程内误差<±1μm+1~3%读数，分辨率0.1μm。手机式外形和操作指南。背景光照明，声音提示，世界最小碳化钨超耐磨测头，特小基面积(5x 5mm)
４、铁基统计型膜厚仪 型号Surfix F
仪器1120201207碳化钨超耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80个测值,可测铁基体上镀层和绝缘涂层,量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明，声音提示,特小基面积(5x 5mm)有红外接PC与打印机
５、非铁基基本型膜厚仪 型号Surfix B N
仪器1120201209碳化钨超耐磨测头,特快反应速度,可测有色金属基体上的绝缘涂层以及铝氧化膜厚度,量程:1500μ m。分辨率:0.1μ m.背景光照明，声音提示,特小基面积(5x 5mm) ,手机式外形和操作指南
６、非铁基膜厚仪 型号Surfix N
仪器1120201211碳化钨超耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80个测值,可测有色金属基体上绝缘涂层,量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明,声音提示,特小基面积(5x 5mm)有红外接PC及打印机
