Yb6880IGBT动态综合参数测试系统,动态综合参数测试系统igbt,动态综合参数测试系统YB6880
产品概述
IGBT是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件,其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性,直接影响变化器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。
IGBT动态综合参数测试台,是针对IGBT器件的开关性特性以及IGBT内部续流二极管的反向恢复特性而专门设计的一套全自动测试系统,适用于电流不超过1500A和集电极电压不超过3500V的IGBT器件开关时间测试以及正向电流不超过2000A的二极管反向恢复特性的测试。
本系统适合各大研究院所做元器件检验,元件进厂检测筛选以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强,通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要,故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程,操作人员不需具备专业计算机编程语言知识,使用简捷方便。
系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证各种情况下测试结果的准确可靠。
系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
1.2 测试系统组成部分
1)开通时间测试单元
2)关断时间测试单元
3)二极管反向恢复特性测试单元
4)一套自动恒温气动压力夹具
5)PLC控制系统
6)计算机控制系统
2、技术条件
2.1环境要求
A. 环境温度: 15~40℃
B. 相对湿度: 小于80%
C. 大气压力: 86Kpa~ 106Kpa
D. 电网电压: AC220V±10%无严重谐波
E. 电网频率: 50Hz±1Hz
2.2 IGBT动态参数及测试条件
IGBT开通特性测试 | IGBT关断特性测试 | 测试气动夹具 |
测 试 参 数 | 开通延迟tdon | 10-1000ns±5%±10ns Tj=25ºC和125 ºC | 关断延迟tdoff | 10-2000ns±5%±10nS Tj=25ºC和125 ºC | 压 力: 用气动压力夹具 控温范围: 80--125℃ 控温精度: 80℃-125℃±1.0℃±1% |
上升时间tr | 10-1000ns±5%±10ns Tj=25ºC和125 ºC | 下降时间tf | 10-2000ns±5%±10nS Tj=25ºC和125 ºC |
开通能量Eon | 1-1000mJ±5%±0.1 mJ Tj=25ºC和125 ºC | 关断能量Eoff | 1-1000mJ±5%±0.1 mJ Tj=25ºC和125 ºC |
测 试 条 件 | 集电极电压Vce | 50-3500V±5% 根据用户要求定制、 | 集电极电压Vce | 50-3500V±5% 根据用户要求定制、 |
集电极电流Ice | 50-1500A±5% 根据用户要求定制、 | 集电极电流Ice | 50-1500A±5% 根据用户要求定制、 |
L负载 | 20-1000uH | L负载 | 20-1000uH |
栅极电压Vge | ±15V±3%±0.2V | | |
3、功能概述
3.1测试范围
该套测试设备主要可测试以下参数:适用于电流不超过1500A、电压不超过3500V的IGBT开关时间的测试。设备的
相关电压、电流等参数可根据客户要求定制
3.2功能概述
3.2.1 开关时间测试系统
该测试台通过电容充放电原理产生电流波形,测试时根据不同的测试条件,设定好测试电压,再通过调节不同的电感值或选择不同的测试脉冲宽度来输出测试要求的电流值,测试的的电压和电流波形同时被采集到示波器,并由示波器与工控机直接通讯,将采集数据传输给计算机,计算机经过处理计算后,将测试数据以表格形式显示并可进行编辑和打印。
3.2.2 计算机控制系统
计算机控制系统是该测试设备的中心控制单元,设备有一部分的工作程序、工作时序、开关的动作状态,数据采集等均由计算机完成。
计算机采用研华工业控制机,具有抗电磁干扰能力强,排风量大等特点。
在计算机中,装有美国国家仪器公司生产的数据采集卡NI6221卡1块,泰克公司的DPO3014型示波器1台。
在测试过程中,计算机与示波器通讯,控制示波器的工作状态,并将示波器的测试数据采集到计算机,计算机对数据进行处理与计算、并进行最终的显示与编辑。
3.2.3 PLC控制系统
本测试台除了采用工控机控制外,还采用了欧姆龙系列的PLC对系统进行控制,PLC主要对设备的工作时序、开关动作等进行控制,并且与计算机进行通讯,完成了整个系统的自动控制功能;
PLC不仅控制开关的动作,而且对系统中主要开关的工作状态进行实时监控,并与硬件进行互锁,实现了全控制功能。