表面形貌及成分分析

    通过分析样品的表面/或近表面来表征材料。基于您所需要的资料,我们可以为您的项目选择的分析技术。 我们的绝大部分的技术使用固体样品，有时会用少的液体样品来获取固体表面的化学信息。在许多情况下材料表征和表面分析是很好的选择，绝大大部分属于两类: 
1）已知自己拥有什么样的材料，但是想要更多关于具体性能的信息，比如界面锐度、剖面分布、形态、晶体结构、厚度、应力以及质量。
2）您有对之不是完全了解的材料，想找出有关它的成份、沾污、残留物、界面层、杂质等。

• 光学显微镜(OM)检查
• 扫描电子显微镜/X射线能谱仪(SEM/EDS)
• 俄歇电子能谱 (AES, Auger)
• X射线光电子能谱/电子光谱化学分析仪(XPS/ESCA)
• 二次离子质谱(SIMS)
• 飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)
• X射线荧光分析(XRF)
• 扫描探针显微镜/原子力显微镜(AFM)
• 激光共聚焦显微镜(CLSM)