国内技术实现长寿命高可靠元器件寿命的快速评价，可缩短试验周期减少试验样品数，特别适合于小批量不连续生产的产品寿命试验。
完备的功能
l 根据元器件参数在电应力、温度应力下的退化数据，快速评价元器件的寿命。
l 系统可提供高稳定度的试验温度环境。
l 系统可提供高速采样。
l 系统可提供高精度的参数测试。
l 系统内嵌可视化寿命数据建模工具。
广泛适用的元器件种类
u 集成电路、分立器件、微波器件、光耦、电真空器件、电阻、电容、磁性元件、传感器、晶体振荡器。
应用说明与案例
l 行波管寿命评价
被试行波管额定使用条件下监测输出功率及阴极电流，在300h试验周期内，获取54万条试验数据，建立器件输出功率退化模型，器件外推寿命7918h（相对初始值退化20% ）。
l 集成电路寿命评价
试验样品：CMOS工艺的SRAM
试验温度：125℃、100℃
监测参数：待机电流
试验时间：各1000h
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l 系统内嵌可视化寿命数据建模工具。
