无损结构分析
目的:
通过不破坏产品或零部件结构的方式,观察其内部结构、判断可能的失效模式,大多数样品测试后还可以继续使用。
常用的无损检测手段:
项目名称 |
用途 |
X射线透视检查 |
金属材料及零部件、塑胶材料及零部件、电子元器件、电子组件、LED元件等内部的裂纹、异物的缺陷检测 |
超声波扫描检查 |
电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷 |
渗透探伤检查 |
焊缝、管材表面裂纹、针孔等缺陷检查 |
磁粉探伤检查 |
铁磁性材料表面裂纹、针孔等缺陷检查 |
三维X射线扫描
三维X射线扫描
(3-Dimensional Computerize Tomography)
是以非破坏性X射线透视技术,将待测物体做360°自传,进而收集每个角度的穿透图像,之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。透光软体,可针对待测物体进行断层分析,将内部结构逐一切割及显现各层不同深度,使微小缺陷能更清晰地显现出来,进而可达到判别缺陷的目的。
检测项目:
1.无损缺陷检测Defect&Assembly
Control
2.几何测量技术Dimensional
Metrology
3.CAD数模对比CAD
Comparision
4.逆向工程
Reverse Engineering