仪器用途:
该仪器适用于LED液晶、导电粒子彩色滤光片、手机屏幕、FPD模组半导体晶图片、FPC-PCB、IC封装光盘CD、图像传感器、CCD、CMOS、PDA光源等需要金相观察及精确测量行业。
仪器特点:
超高的工作距离,采用电机升降(日本“信浓”步进电机),方便调节,自带DIC装置插槽。
仪器型号 | RX-200 | RX-300 |
光学系统 | 无限远光学系统、物镜管镜聚焦200mm、齐焦距离95mm | |
目镜筒 | 铰链式三目镜筒、30度倾斜、瞳距55—75mm | |
目镜 | 高眼点、大视场目镜WF10X/22 | |
物镜转盘 | 5孔物镜转换器 | |
明场物镜(N、A) | 平场半复消色差物镜 5X/0.14、10X/0.25、20X/0.40 | |
物镜工作距离 | W.D:10.8mm、10mm、4.0mm | |
偏光系统 | 光谱范围:480-550mm,含起偏镜、检偏镜 | |
照明方式 | 12V 50W卤素灯落射照明、10WLED透射照明 | |
粗调方式 | 电机升降(日本“信浓”步进电机) 200mm升降范围 | |
微调方式 | 手动微调、微动格值0.002册、40mm升降范围 | |
DIC装置 | 自带DIC装置插槽 | |
载物台 | 8英寸快速移动平台(200X100mm有效行程) | 12英寸速移平台(300X200mm有效行程) |
数显分辨率 | 0.5μm | |
测量误差 | (2+L/250)μm | |
数显装置 | DP-100 | |
摄影接口 | 0.5X 摄影接口 | |
CCD | 美国"TEO"43万像素彩色CCD | |
测量软件 | RJ-J金相专用测量软件 | |
选购件 | 50X/0.60 / 100X/0.55物镜(W.D 12.5)、暗场物镜、OLYMPUS微分干涉镜组 |
RX-J测量软件介绍
1、自动测量功能:鼠标自动找直线、点选圆、框选圆区域自动圆、自动圆弧
2、手动CNC:在有夹具的情况下面可以进行半自动测量
3、光学测高功能
4、光学测量平面度
5、辅助对焦:帮助找到最清晰时候的Z位置 (辅助调焦提高测量精度)
6、图片输出:测量结果可以图片的格式输出 (相当于数码相机功能)
7、形位公差:圆度,直线度,平行度,垂直度,同心度
8、设置公差:可设置产品的实际尺寸超出范围,超出则以红色背景警示
9、CCD矫正:矫正图像畸变
10、轮廓跟踪:通过软件自动计算出工件的轮廓并显示出来 (清晰显示测量位置)
11、矢量绘图功能:图元字体可以无级的放大缩小
12、标注功能:半径标注,直径标注,角度标注,线性标注,对齐标注,文字标注,坐标标注
13、命令行:可以由命令行直接输入坐标信息,生成点、直线、圆、圆弧等,满足特殊需要
14、地图测量:可把所拍的工件局部照片精密的整合成工件全图,并保存为高像素的照片。还可打开以前所拍的地图,直接进行绘图、标注、修改等操作 (合成大图片)
15、虚拟测量:虚拟测量技术使影像测量软件可脱离硬件机台。在没有机台和产品的情况下,软件同样可以测量产品的尺寸 (可以脱机测量)
16、二维抄数:可将产品外形描出,描出的图形可转入AutoCAD形成工程图,可以做逆向工程
17、SPC分析:可以计算CA、CP、CPK、DRL、DRR、DR、MAX、MIN、AVG、RANGE、STD,并可以绘出X-R图,散点图,折线图,柱状图等
轻松学习区域
三坐标系列(三次元、三维测量仪、3D测量仪)
仪器用途:该类仪器主要以三维检测为目的,采用了英国接触式的探头测针。被广泛用于精密模具、汽车零配件、塑胶件等各类物件的检测使用。
影像仪系列(二次元、2.5次元、CNC全自动影像仪、二维测量仪、2D测量仪)
仪器用途:该类仪器主要以二维检测为目的,采用了第四代半导体LDE灯照明,进行非接触式的测量。被广泛用于机械、五金、电子、模具、塑胶、PCB板等各类物件的检测使用,是计量室和生产车间不可缺少的检测仪器设备。
金相工具显微镜系列(金相显微镜、金相工具显微镜、工具显微镜、小型工具显微镜)
仪器用途:该类仪器主要以二维检测和观察为目的,采用了第四代半导体LDE灯和卤素灯照明,进行非接触式的测量和观察。1.金相类——被广泛用于LED液晶、导电粒子彩色滤光片、FPD模组、半导体晶图片、FPC—PCB、IC封装光盘CD、图像传感器、CCD、CMOS、PDA光源等产品的观察及检测。2.工具类——被广泛用于机械、五金、电子元件、模具、塑胶、钟表、弹簧、螺丝、连接器等各种产品的检测使用。
投影仪系列(工业投影仪、精密数显投影仪、数字式精密投影仪)
仪器用途:该类仪器主要以二维检测为目的,采用了全新的结构原理,简单易学。被广泛用于机械、五金、电子元件、模具、塑胶、钟表、弹簧、螺丝等各类物件的检测使用。
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