IM7583的测量频率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz。这大大的高于去年发售的IM7580的测量频率（1MHz~300MHz）。
单一频率测量的LCR测试仪的模式的话，可用于判断出货检查的合格与否，频率变化同时进行测量的阻抗分析仪的模式的话 ，产品开发的特性评估和其他领域中。

最快0.5ms（0.0005秒）的高速测量。这样，对于需要快速检查大量电子元件的电子元件厂商来说可以大幅提高生产效率。
而且，IM7585的反复测量精度是0.07%（1GHz时的代表值），因此实现了稳定测量，提高生产的成品率，从而提高生产效率。

在电子元件厂商的生产线中，各种设备安装在机架中组成检查系统，并进行自动检查。因此，和去年发售的IM7580相同通过将将主机大小小型化，缩小检查系统的体积，并通过多台组合能够缩短检查时间，并降低生产成本。

单一的频率测量的LCR测试仪的模式的话，具备判断电子元件的合格与否的比较器功能以及将电子元件排序的BIN功能。比较其功能克设置上下限值，并以此为判断标准来判断是否合格。相对于比较器功能的按照判断标准判断是否合格，BIN功能则能设置最多10种判断标准，并进行排名。
在多种频率下测量的分析仪的模式的话，包括从电子元件的频率特性中可判断合格与否的区间判断、峰值判断。区间判断是为了确认测量值是否进入任意设置的判断区域内的功能。峰值判断是判断共振点的功能。
另外，还全新搭载了任意设置多种频率，并按照这个设置值判断合格与否的目标判断功能。