物相分析：材料性能不是简单地由其元素或离子团的成分所决定，而是由这些成分所组成的物相、各物相的相对含量、警惕结构、结构缺陷及分布情况等因素所决定。X射线警惕照射到晶体所产生的衍射具有一定的特征，可用衍射的方向及强度表征，根据衍射特征来鉴定晶体物相的方法称为物相分析法。物相分析的项目应包括价态、结晶基本成分和晶态结构的分析。
测试方法：晶体衍射法（XRD）
仪器技术参数：
小角衍射最小角可以达到0.4度，主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射：最低角度可以达到5度，可以精确接收到小于10度的衍射峰。
（1）测量精度：角度重现性±0.0001°；测角仪半径≥200mm，测角圆直径可连续变
（2）最小步长0.0001°；角度范围（2θ）：-110～168°；温度范围：室温～900℃；
（3）最大输出：3KW；稳定性：±0.01%；管电压：20～60kV(1kV/1step)；管电流：10～60mA。
样品要求：
固体粉末：均匀干燥，粒度小于70um（过200目），质量不少于100
mg；
块体、金属及薄膜样品：需加工出一平整的表面，尺寸约为20mm×10mm×2mm
测试标准：
YB/T 5320-2006 金属材料定量相分析 X射线衍射K值法
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