X-RAY 检测机
VERTEX X射线检测系统
VJ
Electronix Vertex A系列功能强大，配置灵活，检测区域覆盖面积广（20”×24”）,可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单精确的定位性能，使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。
可供选择的X光源（75kV,90kV,130kV,150kV）及探测器（2”/4”/6”图像增强器或平板数字探测器）为您提供了多样性的X射线检测性能。
苏州和谐电子技术有限公司
服务热线：0512-65163986
系统基础参数
型号
|
A-75
|
A-90
|
A-130
|
A-150
|
光源
|
75kV
|
90 kV
|
130 kV
|
150 kV
|
焦点大小
|
45μ
|
5μ
|
6μ
|
5μ
|
空间分辨率
|
﹥10 lp/mm
|
﹥40 lp/mm
|
40
lp/mm
|
﹥40 lp/mm
|
总放大倍率-标配摄像头
|
﹥24X
|
﹥130X
|
﹥70X
|
﹥60X
|
总放大倍率-高分辨率摄像头
|
﹥29X
|
﹥240X
|
﹥130X
|
﹥110X
|
最大视野（可视最大区域）
|
﹥2”
|
﹥1.6”
|
﹥2”
|
﹥2”
|
编程能力
|
选配
|
标配
|
设备尺寸
|
70”×50”×62”(D×W×H) （2000mm×1422mm×1575mm）
|
离轴防护：可用1或2个轴夹具；检测范围：20” ×24”； 最大基板尺寸：20¼” ×24¼”
|
