XTOM——三维光学面扫描系统
XTOM三维面扫描系统基于双目立体视觉原理,采用国际最先进的外差式多频相移三维光学测量技术,测量精度、测量速度等性能都达到国际最先进水平,与传统的格雷码加相移方法相比,测量精度高,抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小,可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业,如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。
应用范围
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逆向设计:快速获取零部件的表面点云数据,建立三维数模,从而达到产品快速设计的目的。
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产品检测:生产线产品质量控制和形位尺寸检测,特别适合复杂曲面的检测,可以检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等产品。
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其他应用:文物扫描和三维显示、牙齿及畸齿矫正、整容及上颌面手术。
功能特色
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扫描预览,实时跟踪标志点
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针对不同幅面的标定板,灵活的相机标定
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扫描结果三维显示,灵活的三维显示控制
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坐标转换功能
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具备光学探针功能
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321坐标转换功能
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具备点距测量功能
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具备多种后处理功能,包括点云精确匹配、重叠面自动融合等
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具备多种元素拟合功能:点、线、面、球、圆柱、圆锥等
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具备多种偏差分析功能:点偏差、距离偏差、角度偏差等
规格型号
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产品型号 | TOPSCAN-TC 单目型 | TOPSCAN-MIC 教育型 | TOPSCAN-EDU 教育四目 | TOPSCAN-ET 工业型 |
相机像素 | 1×1300000 ~2000000 | 2×1300000 ~2000000 | 4×1300000~2000000 | 2×1300000 ~4000000 |
扫描范围 | 128×96mm 400×300mm | 32×24mm 64×48mm 128×96mm | 128×96mm 400×300mm | 128×96mm 400×300mm 800×600mm |
测量精度 | 0.02 ~0.04mm | 0.008~0.015mm | 0.03~0.05mm | 0.015~0.03mm |
采样点距 | 0.15 mm~0.3mm | 0.08~0.15mm | 0.12~0.25mm | 0.10~0.25mm |
扫描方式 | 非接触式扫描 |
输出格式 | ASC,STL、PLY |
扫描时间 | 3~5S |
拼接方式 | 标志点全自动拼接,手动选点拼接 |