X 射线荧光测量系统，用于在生产过程中对薄镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe进行连续在线测量和分析

特点
法兰测量头，用于在生产线中进行连续测量
X射线探测器可以为比例计数管，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
在生产过程中直接用典型产品进行快速简单校
可在真空或大气中使用
可以在最高 500° C 的高温基材上进行测量
坚固和耐用是设计的重心 
典型应用领域
光伏技术（CIGS，CIS，CdTe）
分析对金属带、金属薄膜和塑料薄膜上的镀层
连续生产线
喷射和电镀生产线监测
测量大面积样品