TESA Hite plus M自动型二维测高仪: 应用范围广泛 电子装置弯曲防护。可防护液体或灰尘颗粒侵入 内置空气轴承 专利的tesa光电测量系统 全新的符合人体工程学的控制面板 控制面板设计直观，操作方便 具备1D/2D几何测量功能 具备“自学习”功能，可生成循环使用的测量程序 统计数据处理 多种可选附件于tesa其他型号测高仪相兼容 每台测高仪带有SCS校准证书。TESA Hite plus M自动型二维测高仪的详细介绍
TESA Hite plus M自动型二维测高仪
TESA HITE Plus M 400/700
源于长期以来持续不断的技术创新， Tesa推出全新的TESA Hite plus M 400和700拥有接触的性能价格比处处体现着tesa经历验证的专业计数
● 应用范围广泛
● 电子装置弯曲防护。可防护液体或灰尘颗粒侵入
● 内置空气轴承
● 专利的tesa光电测量系统
● 全新的符合人体工程学的控制面板
● 控制面板设计直观，操作方便
● 具备1D/2D几何测量功能
● 具备“自学习”功能，可生成循环使用的测量程序
● 统计数据处理
● 多种可选附件于tesa其他型号测高仪相兼容
● 每台测高仪带有SCS 校准证书
技术规格 | TESA Hite plus M 400 | TESA Hite plus M 400 |
订货号，不带打印机 | 00730045 | 00730046 |
订货号，带打印机 | 00730057 | 00730058 |
量程 mm | 405 | 705 |
应用范围(使用测头座00760143) | 560 | 860 |
应用范围(使用测头座00760057) | 615 | 915 |
应用范围(使用测头座S07001622) | 785 | 1085 |
最大允许误差 | (2.5+3L)μm | (2.5+3L)μm |
重复性：平面内(2S) | ≤ 1μm | ≤1 μm |
内 (2S) | ≤2μm | ≤2 μm |
分 辨 率 | 0.0001/0.001/ 0.01mm | 0.0001/0.001/0.01mm |
重量 | 27KG | 32KG |
数据输出 | RS-232 | RS-232 |
防护等级 | 电子面板IP65，其余IP40 |
工作温度 | 20℃±0.5℃ | 20℃±0.5℃ |
操作温度 | 10℃-40℃ | 10℃-40℃ |
工作电源 | 6V可充电源 | 6V可充电源
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