山东IM3570日置HIOKI数字阻抗分析仪
阻抗分析仪日本HIOKI
山东济南日置IM3570
数字阻抗分析仪IM3570电阻分析仪日置山东HIOKI分析器
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
M3570 电气阻抗分析仪
IM3570 electrical impedance analyzer
主要特点
The main features
测量|Z|、L、C、R
Measurement of |Z|, L, C, R
测量频率4Hz~5MHz
Measuring frequency of 4Hz~5MHz
测量时间：0.5ms
The measurement of time: 0.5ms
同时进行扫频测量和LCR测量
At the same time sweep frequency measurement and LCR measurement
电气阻抗分析仪
Electrical impedance analyzer
详细介绍
A detailed introduction
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
High speed check different measurement conditions to achieve 1 instruments
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
Continuous measurement and high speed LCR measurement, DCR measurement, scanning and measuring the realization of 1 instruments
LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
The LCR mode is the fastest 1.5ms (1kHz), 0.5ms (100kHz) high speed measurement
基本精度±0.08%的高精度测量
High precision measurement of the basic accuracy of plus or minus 0.08%
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
Check and resonance characteristics suitable for the piezoelectric element of functional polymer capacitor C-D and low ESR measurement, inductor (coil, transformer) measurements of DCR and L-Q
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
Analyzer mode can sweep frequency measurement, level measurement, time interval measurement by scanning
