上海伯东 inTEST 高低温循环测试机闪存温度测试应用
闪存(Flash Memory)，是非挥发性内存的一种，不需电力来维持数据的储存，可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash 两种，前者用于储存程序代码，后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、 GPS、工业电子…等等。

闪存温度测试原因
为确保闪存可在极端温度环境(例如: 油气探勘、重工业以及航空领域)可正常实现稳健的闪存读／写操作功能，因此在出厂前需要进行温度测试，inTEST ThermoStream 超高速高低温循环测试机凭借可测试温度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升温或降温 18°C，温度精度 +-1.0℃等优势广泛应用于闪存制造行业。上海伯东作为 inTEST 中国地区总代理，全权负责其新品销售和售后维修服务
闪存温度测试方法:
透过与爱德万 (Advantest ) 内存 IC 测试系统搭配之下，客户可直接在极端温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求，上海伯东推荐选用 inTEST ATS-545-M 高低温循环测试机，并提供两种温度操作模式: Air mode 及 DUT mode
闪存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式来进行温度循环测式，将闪存与 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互连接，如此即可精确掌控受测物达到机台所设定之温度。闪存温度测试方法同样适合内嵌式记忆体eMMC 温度测试。更详细的温度测试操作方法欢迎致电 021-5046-3511

inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热能工程和测试系统开发领域专家。inTEST Thermal Solutions 提供超高速高低温循环气流冲击设备，系列产品包含 THERMOSTREAM®，thermochuck，Chiller。其中 inTEST ThermoStream 系列已全面取代 Thermonics 和 Temptronic。inTEST 凭借提供精密的高低温循环测试环境，作为最优的高速热测试设备广泛应用于安捷伦(Agilent)、台积电(TSMC)、IBM 等半导体、PCB、光通讯行业。上海伯东作为 inTEST 大中华地区总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务-detail.php?id=306

上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备;美国 Polycold 深冷泵;美国 KRI 考夫曼离子源;美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST 超高速高低温循环试验机;日本 NS 离子蚀刻机等。

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